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超音波厚さ測定 チュートリアル

4.3 校正証明書

校正証明は、特定の試験条件下における超音波厚さ計の測定の正確性を文書化するプロセスです。 製造元の校正証明は通常、米国標準技術局(NIST)に対してトレーサビリティのある厚さの標準試験片を用いて実施されます。 文書化された試験条件下での測定の正確さは、通常、所与の厚さ計、探触子、厚さ計セットアップ、および材料に対して製造元が確立した許容誤差と比較されます。

注目すべき点は、あらゆる超音波厚さ計の測定の正確さは厚さ計と探触子両方の性能と正しい使用に依存するため、超音波厚さ計は必ず、厚さ計セットアップも含めた探触子が入ったシステムの一部として証明される必要があることです。 校正証明書は、特定の探触子を使用した際に規定条件下での厚さ計性能を記録しているにすぎません。 その他の探触子を用いたシステム、特に摩耗や過熱の影響を受けている探触子では性能が異なる可能性があります。 その上、校正証明に使用した標準試験片以外の材料で厚さ計を使うのであれば、新規に速度の再校正が必要になります。 このプロセスが正しく実施されない場合は、不正確な結果となります。 所定の試験に要求されるレベルに合わせて測定の正確さを検証するのは、ユーザーの責任です。 これは通常、厚さが既知の適切な標準試験片を用いて単に測定値をチェックすれば、簡単に行えます。

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