透過波面測定干渉計KIF-PUは、光学部品の透過波面収差を解析するための干渉計システムです。特に光ピックアップ用の生産ラインにおいて、対物レンズやコリメートレンズの透過波面の評価に最適なシステムです。

1. オペレータを選ばず安定した測定が可能
   ピエゾ駆動ステージによる自動調整機構および専用ソフトウェアを標準装備することで、アラインメント誤差による測定値の変動を低減させます。この機能は、高N.A.の光ピックアップレンズの透過波面測定に威力を発揮します。

2. 405nm帯レンズ・650nm帯レンズの測定が可能
   405nm光源と658nm光源の2波長を標準搭載し、簡単なオペレーションで測定波長の切り換えが行えるため、どちらの光学部品の評価にもお使いいただけます。

3. 直線／円偏光切替が可能
   ピックアップ光学部品に使用される偏光依存性を持つ被検物の測定には直線/円偏光切換が必要です。プラスティックや結晶等の複屈折を持つ部品の透過波面測定に最適です。

4. 小型・高剛性
   小型で高剛性な本体は、生産現場での使用環境を考慮しているため場所を取らず、迅速な品質検査に対応します。

5. 合否判定が可能
   専用ソフトウェアにて、任意に設定可能な規格値と合否判定設定機能により、生産ラインにおいての合否判定を容易に行うことが可能です。