※中国限定商品です。中国以外の地域では、KIF-20シリーズを販売しております。
KIF-202Lは顕微鏡・光ピックアップなどの製造で培った小径測定技術を用いて開発した小型で使いやすい干渉計です。 光通信、ビデオ、情報機器などの光学素子を高精度に測定できます。

1. 小型・簡単操作
   作業現場での使用環境を考慮しているため場所を取らず、操作性も簡単です。

2. 測定倍率は1×、2.5×が可能
   測定倍率は2.5×に拡大できるため小さな物の測定に便利です。アパーチャコンバータø60-ø15（オプション）を組み合わせれば最大10倍の拡大が可能です（平面測定時）。

3. 参照レンズはλ/20と高精度
   当社加工技術により参照レンズは、λ/20と高精度です。オプションによりλ/30もご用意致します。

4. 豊富なアクセサリ群
   豊富なアクセサリを用意しました。干渉縞解析装置（KIF-FU60）を取り付ければ高度な縞解析が可能です。