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Soluzioni industriali

Analizzatori XRF e XRD
Vanta iX

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Overview

L'analizzatore a raggi X a fluorescenza (XRF) per linee di produzione Vanta™ iX per le analisi automatizzate dei materiali

Mantieni aggiornato il tuo processo produttivo

L'analizzatore a fluorescenza a raggi X (XRF) per linea di produzione Vanta™ iX Olympus assicura l'affidabilità dei vostri prodotti attraverso l'automatizzata analisi dei materiali e identificazione delle leghe nella linea di produzione:

  • Ottenimento di risultati istantanei per l'istantaneo processo di monitoraggio e l'ispezione completa
  • Costruito per operare in continuo (24/7)
  • Configurato per fornire risultati di tipo Idoneo/Non idoneo (Pass/Fail), precisa identificazione della qualità di lega e composizione chimica del materiale
sistema di misura in linea di produzione per la composizione chimica delle leghe

Ispezione completa nell'ambito delle produzione di tubi, barre e aste in metallo

Per le aziende che adottano le procedure dell'Industria 4.0 e il controllo dei processi in continuo per la verifica delle leghe con analisi di tipo Idoneo/Non idoneo (Pass/Fail), l'analizzatore Vanta iX permette la verifica dei materiali e il controllo del lotto/calore per la produzione di barre, billette, tubi e aste, oltre a componenti lavorate e personalizzate. L'automatizzazione dell'ispezione mediante l'analizzatore Vanta iX aggiunge un vantaggio competitivo al prodotto finito visto che è possibile dimostrare che i materiali sono completamente ispezionati e verificati.

Scansione e monitoraggio per il controllo della qualità dei minerali per l'attività mineraria

Nell'ambito dell'attività mineraria l'analizzatore Vanta iX permette il monitoraggio per la scansione dei carotaggi e l'analisi sui nastri trasportatori, ottenendo risultati in tempo reale per monitorare le variazioni nel processo e assicurare un'uniformità nella composizione minerale. Durante l'analisi sui nastri trasportatori, l'analizzatore fornisce una verifica della miscelazione e la convalida del trattamento dei concentrati.

spettroscopia con fluorescenza a raggi x per la fabbricazione dei metalli
analisi delle leghe e dei metalli per il QA/QC nell'attività produttiva

Veloce e precisa analisi elementare per il controllo qualità in continuo

Come tutti gli strumenti Vanta, l'analizzatore Vanta iX opera in modo veloce per fornire risultati affidabili e istantanei per orientare le decisioni importanti.

  • Alta risoluzione: Identificazione di numerose qualità di lega, inclusi gli elementi leggeri e pesanti
  • Risultati veloci e precisi: Le componenti elettroniche dell'analizzatore assicurano alta produttività, stabilità e velocità di conteggio.
  • Efficiente: Integrazione del rilevatore SDD (silicon drift detector) e della collaudata Axon Technology™ trovata in ogni analizzatore Vanta

Facile integrazione in diversi tipi di sistemi di produzione

Attraverso i fori di montaggio posizionati su ogni lato l'analizzatore Vanta iX è versatile, compatto e facile da installare, integrandolo con sistemi robotici e altri sistemi. Non esiste l'unità di controllo, pertanto è possibile controllare facilmente l'analizzatore mediante l'API Vanta Connect o il PLC e cablaggio separato.

Opzioni del connettore

  • Ethernet (RJ-45), permettendo Power over Ethernet
  • USB
  • I/O separati (16 pin)
  • Alimentazione AUX DC
analizzatore XRF in linea di produzione per l'analisi automatizzata dei materiali

Robusto per massimizzare il tempo di attività negli ambienti produttivi

L'analizzatore Vanta iX è progettato per resistere ad elevati livelli di vibrazioni, campi elettromagnetici, onde acustiche, polvere e umidità, in modo da aumentare l'affidabilità e il tempo di attività.

  • Testato alle vibrazioni (MIL-STD)
  • Grado di protezione IP54
  • Progettato per operare da –10 °C a 50 °C (da 14 °F a 122 °F) con analisi continua

Un dissipatore di calore integrato consente un abbassamento della temperatura interna mentre sono disponibili dei punti di fissaggio delle ventole se fosse necessario un raffreddamento supplementare. L'analizzatore permette la sostituzione delle pellicole senza l'ausilio di attrezzi, in modo da assicurare una rapida manutenzione.

Specifications

Specifiche tecniche del Vanta™ iX

Dimensioni (Larghezza × Altezza × Lunghezza) 10 cm × 7,9 cm × 26,6 cm
Peso 2,4 kg
Fonte di eccitazione Tubo a raggi X: Anodo Rh o W (applicazione ottimizzata) 5–200 μA
Modello MR: 8–50 keV (max. 4 W)
Modello CW: 8–40 keV (max. 4 W)
Filtro principale dei fasci Otto posizioni di filtro automaticamente selezionate per fascio e per metodo
Rilevatore Modello MR: Rilevatore SDD a ampia area
Modello CW: Rilevatore SDD standard
Alimentazione Power over Ethernet (PoE+) o alimentatore da 18 V
Intervallo di elementi analizzabili Metodo dipendente:
Modello MR: Mg–U
Modello CW: i–U (con pellicola standard e taratura)
Correzione della pressione Barometro integrato per la correzione automatica dell'altitudine e della pressione dell'aria
Grado di protezione IP54
Ambiente operativo Intervallo di temperatura: Da –10 °C a 50 °C (da 14 °F a 122 °F) con funzionamento continuo
Umidità: Da 10% a 90% di umidità relativa, senza condensazione
Sistema operativo Linux
Software di applicazione Pacchetto di acquisizione ed elaborazione dati Olympus

Resources

Video

Analizzatori XRF Vanta iX Olympus

Infografica

Vanta™ iX In-Line XRF Analyzer

Cataloghi

Vanta™ iX In-Line XRF Analyzer: Spec sheet
Vanta™ iX In-Line XRF Analyzer for Automated Material Analysis
Vanta™ iX In-Line XRF Analyzer Integration Options
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Manuali

Vanta™ iX: Installation Guide
Home/ Prodotti/ Analizzatori XRF e XRD/ Analizzatori XRF per linee di produzione/ Vanta iX
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