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Utilizzare gli analizzatori XRF del Vanta™ per effettuare la cernita veloce e precisa di leghe in alluminio con basso contenuto di magnesio


Utilizzare gli analizzatori XRF del Vanta™ per effettuare la cernita veloce e precisa di leghe in alluminio con basso contenuto di magnesio

La lega in alluminio rappresenta il metallo preferenziale in diversi settori industriali. Inoltre la produzione di alluminio e l'attività di riciclaggio cresce a livello mondiale. Quando confrontato a altri tipi di leghe, l'alluminio è spesso il materiale scelto preferenzialmente per un risparmio in termini di peso e costo per componente. Parte della resistenza e della leggerezza dell'alluminio deriva dal magnesio, un elemento legante fondamentale specificato frequentemente nella composizione.

La capacità di rilevare velocemente ridotte quantità di magnesio (<1%) in una lega di alluminio è risultata problematica per gli analizzatori a fluorescenza a raggi X (XRF) portatili a causa della considerevole durata dell'analisi per identificare delle quantità specifiche di magnesio. Con i progressi tecnologici e l'integrazione della Axon Technology, una tecnologia all'avanguardia, l'analizzatore XRF portatile VantaOlympus ha ridotto considerevolmente i tempi di analisi necessari per analizzare in modo preciso bassi livelli di magnesio (Mg) nelle leghe in alluminio (Al.

Gli analizzatori Vanta rappresentano l'eccellenza nel produrre, in modo rapido e preciso, dei risultati relativi al Mg per la cernita delle leghe in Al. Una durata di analisi inferiore ai 10 secondi è spesso sufficiente per determinare il contenuto di Mg in diverse leghe di Al. Con i precedenti analizzatori XRF portatili per lo stesso tipo di analisi erano spesso necessari più di 20 secondi.

Il grafico riportato di seguito mostra i risultati medi relativi a 10 analisi per campione con tempi di analisi rapidi; le barre di errore mostrano la media +/- di errori relativi a un sigma per 10 analisi. Per un livello di Mg > 0,4%, i tempi di analisi sono stati di 3 secondi con un fascio da 40 kV e solamente di 5 secondi con un fascio da 13 kV per quantificare i valori riportati di Mg. Per un livello di Mg di 0,21% i tempi di analisi per il fascio da 13 kV sono aumentati di 20 secondi. Per individuare i livelli in tracce trovati nell'AL1100 di 0,03%, i tempi di analisi del fascio da 13 kV sono aumentati di 60 secondi.

Le durate di analisi del grafico sono riportate ugualmente nelle seguenti tabelle.
Le durate di analisi del grafico sono riportate ugualmente nelle seguenti tabelle.

Risultati di analisi di una qualità di lega alluminio 380 con tempi di analisi di 3 secondi con un fascio da 40 kV e di 20 secondi con un fascio da 13 kV.

Concentrazione di Mg 1 Sigma errore Mg Concentrazione di Al 1 Sigma errore Al
1 0,131 0,052 85,452 0,076
2 0,211 0,053 85,373 0,076
3 0,246 0,053 85,378 0,076
4 0,235 0,053 85,373 0,075
5 0,182 0,052 85,404 0,076
6 0,131 0,052 85,344 0,077
7 0,186 0,052 85,378 0,076
8 0,164 0,052 85,441 0,075
9 0,211 0,052 85,330 0,076
10 0,162 0,052 85,446 0,075
Media 0,186 0,052 85,392 0,076
Analisi 0,21

Risultati di analisi di una qualità di lega alluminio 1100 con tempi di analisi di 3 secondi con un fascio da 40 kV e di 60 secondi con un fascio da 13 kV.

Concentrazione di Mg 1 Sigma errore Mg Concentrazione di Al 1 Sigma errore Al
1 0,058 0,023 99,067 0,033
2 0,044 0,023 99,120 0,027
3 0,060 0,023 99,113 0,028
4 0,046 0,023 99,082 0,033
5 0,051 0,023 99,148 0,027
6 0,060 0,023 99,051 0,032
7 0,046 0,023 99,109 0,027
8 0,071 0,023 99,049 0,032
9 0,050 0,022 99,088 0,027
10 0,072 0,022 99,037 0,033
Media 0,056 0,023 99,086 0,030
Analisi 0,03

La maggior parte delle qualità di lega in alluminio hanno un contenuto di magnesio corrispondente o superiore allo 0,4 %. In solamente 5 secondi di analisi con fasci a bassa energia (il fascio rimane attivo per un tempo totale di 6 secondi) è possibile effettuare con precisione la cernita dei campioni con la quantificazione del livello di Mg. Questi risultati dimostrano che analisi relativamente brevi sono sufficienti per determinare con precisione le qualità di lega in alluminio con basso contenuto di magnesio.

Olympus IMS
ProductsUsedApplications

In conformità al grado di protezione IP64 o IP65 tutti gli analizzatori XRF portatili Vanta per la cernita di materiali di scarto sono progettati per resistere alla pioggia, alla polvere e alle cadute in base alle norme (MIL-STD-810G) del Dipartimento della Difesa degli Stati Uniti per contribuire a evitare guasti e massimizzare i tempi di operatività, nelle condizioni più difficili delle aree di cernita.
Gli analizzatori XRF portatili Vanta sono tra i più resistenti strumenti fabbricati da Olympus. Questi analizzatori resistenti, potenti e intuitivi forniscono analisi elementari e identificazioni delle leghe veloci e precise per i clienti che richiedono sul campo dei risultati con una qualità da laboratorio.
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