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Soluzioni di microscopie per
Produzione PCB

Realizzazione del substrato

È possibile realizzare un substrato mediante vetro e resine epossidiche, coprendolo successivamente con un foglio in rame. La rugosità della superficie del foglio in rame deve essere ispezionate attentamente visto che influenzano la qualità dei PCB.

Analisi della superficie di un substrato in rame

Difetti di ridotte dimensioni presenti sulla superficie influenzano la qualità del substrato. Gli operatori devono rilevare e misurare le dimensioni di difetti di ridotte dimensioni (livello micrometrico) sulla superficie del substrato in rame.

La nostra soluzione

Il nostro microscopio digitale DSX1000 può fornire immagini 3D permettendo di analizzare facilmente le condizioni superficiali del substrato. Il microscopio può inoltre misurare la larghezza e la profondità di difetti di ridotte dimensioni.

Microscopio digitale della serie DSX

Microscopio digitale della serie DSX

Analisi superficiale del substrato

Analisi superficiale del substrato

Note applicative

Scopri le applicazioni correlate:

Ispezione di fili saldati mediante un microscopio digitale
Utilizzare il microscopio laser confocale Olympus OLS5000 per misurare la rugosità dei circuiti stampati Maggior informazioni
Misura della rugosità superficiale dei collettori con elettrodi di batteria agli ioni di litio
Misura della rugosità superficiale dei collettori con elettrodi di batteria agli ioni di litio Maggior informazioni

Analisi della superficie di un substrato in rame

Una superficie irregolare del substrato in rame influenza la qualità della laminazione, pertanto la misura di rugosità della superficie nel substrato in rame risulta fondamentale per assicurare la qualità del PCB. Uno strumento di misura delle rugosità a contatto non può essere utilizzato visto che potrebbe creare dei difetti sul substrato in rame.

La nostra soluzione

Il nostro microscopio a scansione laser della serie OLS può fornire una misura della rugosità senza contatto per una superficie del substrato in rame. Permette di effettuare la misura senza alterare la superficie e consente di acquisire i dati di una superficie irregolare in modo più preciso rispetto a un inteferometro a luce bianca a causa dell'elevata risoluzione laterale.

Microscopio della serie OLS a scansione laser

Microscopio della serie OLS a scansione laser

Analisi superficiale del substrato

Analisi superficiale del substrato

Note applicative

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Ispezione di fili saldati mediante un microscopio digitale
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Misura della rugosità superficiale dei collettori con elettrodi di batteria agli ioni di litio
Misura della rugosità superficiale dei collettori con elettrodi di batteria agli ioni di litio Maggior informazioni
Valutazione della rugosità delle superfici di schede di memoria
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