Serie di analizzatori XRF portatili Vanta Element™

Identificazione di leghe e analisi degli elementi leggeri convenienti

Analizzatore XRF portatile Vanta Element

L'analizzatore XRF della serie Vanta Element integra caratteristiche di performance e portatilità necessarie per una veloce cernita di scarti metallici o identificazione dei metalli. I modelli Vanta Element e Vanta Element-S permettono una veloce identificazione delle qualità di lega con un chiaro confronto delle qualità di lega sulla schermata per assicurare un'operatività semplificata quando si analizzano i metalli.

La serie Vanta Element rappresenta la nostra conveniente serie di base di analizzatori XRF portatili. È possibile scegliere l'analizzatore Vanta Element per l'identificazione di leghe o l'analizzatore Element-S per una veloce analisi di elementi leggeri a un prezzo conveniente.


Vanta Element

✓ Acciaio inossidabile
✓ Leghe di rame
✓ Acciaio basso legato
✓ Leghe di nichel
✓ Leghe di titanio
✓ Leghe di alluminio
✓Metalli preziosi

Vanta Element-S

✓ Acciaio inossidabile
✓ Leghe di rame
✓ Acciaio basso legato
✓ Leghe di nichel
✓ Leghe di titanio
✓ Leghe di alluminio
✓Metalli preziosi
✓Analisi degli elementi leggeri
(Mg, Al, Si, S e P)

Modello Vanta Element

Modello Vanta Element-S

Uso Identificazione di leghe conveniente Identificazione di leghe e rilevamento di elementi leggeri conveniente
Applicazioni ottimali Veloce analisi di base Analisi di magnesio (Mg), alluminio (Al), silicio (Si), zolfo (S) e fosforo (P)
Rilevatore PIN Rilevatore SDD (Silicon drift detector)
Pellicola Pellicola spessa di Kapton® Pellicola di Prolene® con supporto in Kapton
Fonte di eccitazione Tubo a raggi X da 2 watt con anodo al tungsteno (W) da 35 kV Tubo a raggi X da 4 watt con anodo all'argento (Ag) da 50 kV
Riciclaggio di scarti mediante l'analizzatore xrf

Resistente

  • Grado di protezione IP54 per la resistenza alla polvere e all'umidità
  • Testati alla caduta (MIL-STD-810G) per una protezione da cadute o urti accidentali
  • Spessa pellicola Kapton® per proteggere gli analizzatori quando si analizzano oggetti taglienti

Moderno

  • Veloce identificazione di leghe per una cernita supportata dalla collaudata tecnologia Olympus Axon Technology™
  • Connettività wireless a una rete locale o all'Olympus Scientific Cloud™ (opzionale)
  • Visualizzazione dei risultati e condivisione dei dati attraverso uno smartphone con l'app mobile Vanta
componente app analizzatore a raggi X
Analizzatore XRF in un deposito di rottami

Facilità d'uso

  • Confronto delle qualità di lega sul display e risultati veloci per un'alta produttività
  • Interfaccia utente simile a uno smartphone per facilitarne l'uso
  • Prezzo conveniente
Scopri il Vanta



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