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InSight Blog
Ispezione di wafer di semiconduttori

Ottimizzazione del microscopio e del flusso di lavoro per l'ispezione di wafer

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Limiti intergranulari in una sezione metallografica mediante le analisi di immagini di deep learning

Il potenziale dell'analisi di immagini basata sull'IA nell'ambito della metallografia e della materialografia

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Tecnico in ambiente di ispezione per la produzione mentre utilizza il software di imaging e misura per il microscopio

Nove modi attraverso i quali ampliare le capacità di ispezione mediante il software PRECiV™ 1.2

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Dispositivo eddy current NORTEC 600 e scanner rotante per fori di bulloni con sonda su un braccio robotico

Potenziale del NDT 4.0 per ottimizzare i controlli eddy current di fori di bulloni per i produttori

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Workstation XRF portatile per l'analisi di carotaggi

Brixton Metals utilizza gli analizzatori XRF per realizzare precise e veloci analisi di carotaggi

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Schermata B-scan unito

Risparmia tempo ed energie nel controllo delle saldature mediante il B-scan unito

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Oro e carbone nell'attività mineraria

Misura automatizzata dell'oro nel carbone attivo mediante campionamento e analisi XRF integrati

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Filtro di particelle per il monitoraggio della pulizia ambientale nei contesti produttivi

Come usare i filtri di particelle per monitorare la pulizia ambientale

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Immagine complessiva dell'encoder a filo, del supporto universale e del Mini-Wheel

Volgere la situazione a proprio vantaggio: Lo strumento essenziale per la scansione PA con encoding

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Il professore Bo Hyun Kim dell'Università Soongsil con un microscopio digitale

Miglioramento della qualità di superfici lavorate mediante microscopi laser e digitali

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Immagini IR di trasmissione di un chip semiconduttore

Funzionalità di imaging nel vicino infrarosso per ispezioni di componenti elettroniche e semiconduttori

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Microscopio per l'assemblaggio di dispositivi medici

3 vantaggi nell'uso dei microscopi a realtà aumentata nei dispositivi medici

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