Funzionalità oltre l'ordinarioOttieni il massimo potenziale dall'ispezione di semiconduttori automatizzata grazie alle componenti hardware e software personalizzate del microscopio. |
I sistemi di microscopi per semiconduttori MX63 e MX63L offrono osservazioni di qualità per wafer fino a 300 mm, visualizzazioni di pannelli piani, schede a circuiti stampati e altri campioni di grandi dimensioni. Questi sistemi ergonomici e di semplice utilizzo presentano un design modulare adatto a svariate applicazioni. Per agevolare l'ispezione, la serie MX63 può essere personalizzata con:
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Personalizza il tuo microscopio per semiconduttori |
Totale motorizzazioneScopri i nostri tavolini motorizzati per assi X-Y e asse Z dedicati all'ispezione automatizzata dei semiconduttori. | Imaging miglioratoUsa la luce IR trasmessa per l'ispezione diretta dei campioni di silicio, come l'analisi di danni ai chip e il rilevamento di corto circuiti. | Fermacampioni personalizzatiUna vasta scelta di fermacampioni personalizzabili per applicazioni specifiche. |
Software personalizzato per ottimizzare i flussi di lavoro d'ispezioneSfrutta al massimo tutti i vantaggi offerti da un tavolino motorizzato con soluzioni software personalizzate. Il nostro software PRECiV™ può essere personalizzato per il tuo flusso di lavoro specifico. |
Per esempio, la soluzione personalizzata di esplorazione del wafer offre un flusso di lavoro per la misurazione multi-posizione. Guarda il video e scopri in che modo questa soluzione definisce il layout del wafer ed esplora punti differenti del wafer per l'acquisizione di immagini. |
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