Industrie de l’électronique

Outils de mesure par microscopie d’Olympus dédiés aux produits électroniques

La taille des produits électroniques ne cesse de diminuer, tout comme celle de leurs composants. Le contrôle de microcircuits, de wafers et d’autres éléments électroniques est une opération délicate, car la présence d’un débris, même de très petite taille, peut suffire à provoquer un dysfonctionnement.

Les fabricants utilisent des microscopes équipés d’ojectifs de grande qualité pour contrôler les soudures dans les circuits et l’état des fils dans les circuits imprimés, ainsi que pour détecter la présence d’éventuels contaminants. Dans certains cas, la rugosité des composants d’un dispositif est mesurée à l’aide d’un microscope confocal à balayage laser sans contact pour vérifier leur conformité à des normes strictes.

Outils de mesure et de contrôle de composants 5G

Outils de mesure par microscopie dédiés à la fabrication de semi-conducteurs

Outils de mesure par microscopie dédiés à la fabrication de cartes de circuits imprimés

Outils de mesure par microscopie dédiés à la fabrication de batteries au lithium

Documentation complémentaire

Articles de blogue

Combinez les méthodes d’observation pour en voir davantage lors de l’inspection des défauts de vos wafers

Électricité statique et rugosité de surface des films : une expérience

Avantages des microscopes laser pour mesurer la rugosité des feuilles de cuivre utilisées dans les circuits imprimés de composants 5G

Améliorer le processus de contrôle qualité dans la fabrication de produits électroniques grâce au logiciel PRECiV™

Une méthode intelligente de contrôle de la contamination appliquée à la métrologie et à l'inspection à haute cadence

Cinq avantages du microscope numérique DSX1000

Qu’est-ce qu’un microscope numérique?

ASNT 2018 Wrap Up

De la macro à la micro : comment la microscopie numérique transforme les inspections industrielles

Toy Trouble: Detecting Hazardous Materials in a Popular Toy

Acquisition d’images de haute qualité à travers le silicium sans endommager le produit fini

Utilisation d’un logiciel d’analyse d’images pour détecter automatiquement les particules dans le tellurure de cadmium-zinc

Analyse de produits grand public à l’aide de l’analyseur à main XRF Vanta

La tendance vers l'éclairage DEL s’accélère en microscopie

Sous l’objectif du stéréomicroscope

Avantages d’un système microscopique entièrement motorisé

Exploiter l’illumination de Köhler au maximum

Comment une base de données d’imagerie peut-elle être utile pour vous?

Tirez le maximum de votre mesureur d’épaisseur grâce à de nouvelles vidéos didactiques

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Notes d’application

プリント基板（PCB）における不良解析の課題と解析事例紹介

Using a High-Resolution Digital Microscope to Perform Highly Accurate Thickness Measurements of the Internal Layer of a Multilayer Ceramic Condenser

High-precision three-dimensional measurement : Measuring the shape of microchannels with a 3D laser microscope (Japanese only)

Measuring the Circuit Shape of a Printed Wiring Board Using a Digital Microscope

Inspecting Glass Fiber Peeling in a Printed Wiring Board’s Glass Epoxy Substrate—Clear Images Are Essential for Quality Control

Détection des défauts de fabrication des wafers de semi-conducteurs à l’aide d’un microscope numérique

Acquisition d’images claires et de mesures exactes d’un condensateur en céramique stratifié à l’aide d’un microscope numérique

Measuring the Volume of Integrated Circuit Chipping After the Dicing Process Using a Digital Microscope

Inspection complète des broches de connecteurs grâce à la grande profondeur de champ du microscope numérique DSX1000

Inspection de fils de connexion au moyen d’un microscope numérique

Inspecting the Cavity Profile of Xenon Difluoride (XeF2) Etched Silicon (Si) Wafers for Suspended Antenna-Coupled Nanothermocouples

Measuring the Profile of a Bonding Wire Ball

Measuring the Thickness of Photoresist Film

Height Measurement of Microscopic Bumps on an Integrated Circuit

Measuring the shape of scratches on vehicle-mounted camera lenses

Measuring the shape of an automotive millimeter-wave radar’s circuit board

Measuring the Layer Profiles of Thin-Film Solid-State Lithium-Ion Batteries Manufactured Using the Inkjet Technique

Mesure de la rugosité de surface d’une pastille de puce sur une grille de connexion

Measuring the Roughness of Lithium-Ion Battery Electrodes Using a Laser Microscope

Mesure de la rugosité de surface des collecteurs d’électrodes des batteries lithium-ion

Using a microscope to inspect the solder wettability of mounting components

Observing the Surface Condition of Separators in Lithium-Ion Batteries Using a Scanning Probe Microscope (SPM) Combined with a Laser Microscope

Évaluation de la rugosité de la surface des cartes mémoire

Inspection des motifs de circuits sur des échantillons de wafers

Using Image Analysis Software to Measure Throwing Power or PCB Copper Plating Thickness Uniformity

Wiring Inspections for Flexible Printed Circuit Boards (PCBs)

Mesure du rapport de surface Au pour les surfaces soudées après séparation de la bille

Contaminants dans des trous traversants de cartes de circuits imprimés (PCB)

Mesure des dimensions d’une bande de transport gaufrée pour condensateurs

Step measurement of transparent film applied to a glass surface

Evaluating the Coating on a Smartphone Housing / Film thickness measurement and 3D surface profile measurement using a laser microscope

Roughness Evaluation of the Inner Lead of a Lead Frame / Surface roughness measurement of a micro area using a laser microscope

Évaluation du profil de surface de plaques de diffuseur pour les écrans LCD / Mesure de formes en 3D sans contact à l’aide d’un microscope laser

Evaluating the Shape of the Landing Zone Pattern and Contaminants on a Hard Disk / All-in-one system of optical, laser, and probe microscope capabilities provides seamless measurement from the millimeter to nanometer level.

Profil de surface de la plaque guide de lumière pour les écrans LCD / Mesure de la forme 3D sans contact à l’aide d’un microscope laser

Quantitative Investigations of the Interconnect

Looking towards a Future of Affordable Solar Energy

Studying the Electro-mechanical Behavior of Thin Films

Mesure de la rugosité de surface de substrats d’impression souples à l’aide du microscope confocal laser Olympus OLS4100

Evaluating the Contacting Terminals of Wafer Level Chip Size Packages (CSPs) using the Olympus OLS4100 Laser Confocal Microscope

Utilisation du microscope confocal à balayage laser OLS5000 d’Olympus pour mesurer la rugosité de surface des cartes de circuits imprimés

Sectioning Analysis for Ball Grid Array (BGA) Surface Mounting of Semiconductor Package using the Olympus OLS5000 Laser Confocal Microscope

Setting standards in optical metrology at the PTB

Inspection of PGA packaging

Analyse de vue en coupe BGA

Semiconductor Bear Wafer Lasermark

Des matériaux de substitution pour une énergie de substitution

Maximizing Data Recovery: Utilizing 3D Digital Laser Microscopy to Image Damaged Optical Media

The Benefits of Handheld XRF for Medical Device RoHS Compliance

The future of industrial quality control

Quilt Packaging: Lining Up an Array of Opportunities

HHXRF Analyzers for Screening Consumer Goods for Lead (Pb), Cadmium (Cd) and Other Metals

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Vidéos

RVI Tutorial Video Series—Inspection Management with the IPLEX™ NX Videoscope

IE Japan Seminar: DSX1000 Solution

IE Japan Seminar: Microscope Solution

IE Japan Seminar: Stereo Microscope and Digital Camera Solution

DSX1000: Demonstration Guaranteed The Accuracy and Repeatability

DSX1000: Demonstration Stiching Function

DSX1000: Demonstration Reproduction Function of Observation Conditions

DSX1000: Demonstration Various Observation Method With One Touch

DSX1000: Demonstration Best Image Function

DSX1000: Demonstration Free Angle Observation System

DSX1000: Demonstration Wide Field Range Observation from Macro to Micro

DSX1000: Demonstration Digest

OLS5000: Demonstration (Japanese only)

Solutions d’Olympus pour l’industrie de l’électronique

DSX1000 – Vidéo de présentation

Vanta — Tutoriels techniques — Démarrage rapide du logiciel Vanta pour PC

CIX100 - Technical Cleanliness Inspection System

Proper Setup of a Basic Stereo Microscope

BX3M – Vidéo de présentation

Stereo Microscope Ergonomic Video

Microscope de mesure STM7

EPOCH 650 – Présentation du produit

27MG – Mesureur d’épaisseur à ultrasons – Présentation du produit

Tech Tours – Microscopes industriels Olympus

OLYMPUS Stream – Palette d’outils Material Solution

OLYMPUS Inspector – Vue d’ensemble

45MG – Présentation du produit

OLYMPUS Stream – Mesure de l’épaisseur d’une ou plusieurs couches

OLYMPUS Stream – Analyse d’inclusions non-métalliques

GoldXpert – Présentation du produit

OLYMPUS Stream – Mesure et imagerie 3D

LEXT – Acquisition d’images confocales (2)

LEXT – Acquisition d’images confocales (1)

38DLP/39DLP – Vue d’ensemble

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Documents infographiques

Vanta Infographic

SZX Ergonomic Infographic

Solutions

Vanta for Manufacturing QA/QC

Analyseur XRF portable DELTA pour les métaux et les alliages

Webinaires

Webinar - XRF as Part of a Reasonable Testing Program for Consumer Products Regulations

Brochures

VANTA pour les applications PMI

Caractéristiques techniques du Vanta

Vue d’ensemble des microscopes et de la métrologie optique pour les applications industrielles

Remote Visual Inspection Solutions General Overview

Brochure MX63/MX63L

LC30 Microscope Digital Camera

Analyseur XRF à main Vanta™

Motorized Microscope System BX61

Microscope système BX53M/BXFM

• Sondes conçues pour des applications particulières • Sondes d’angle • Sondes d’immersion • Sondes à sabot intégré • Sondes à ultrasons courbes • Sabots Sondes et sabots à ultrasons multiéléments

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Articles techniques

Application Considerations in Specifying High Frequency Ultrasonic Transducers

Roughness Measurement with LEXT, Laser Scanning Microscopes

Basic Principles of Laser Scanning Microscopes

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Tutoriels

Tutoriel sur la recherche de défauts

Tutoriel sur les ultrasons multiéléments

Tutoriel sur les courants de Foucault multiéléments

Table des matières du tutoriel

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FAQ

Inspection par ultrasons — FAQ

Glossaire des microscopes industriels

Frequently Asked Transducer Questions

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Manuels

Vanta Family X-Ray Fluorescence Analyzer User Interface Guide

Famille Vanta Analyseur à fluorscence X Guide d'utilisation abrégé

Documentation

LEXT Roughness measurement guidebook