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Microscopes industriels
Configurations

Concept de système modulaire de grande fiabilité
Une simplicité jamais vue

Les six configurations proposées pour le BX53M offrent une grande flexibilité pour choisir les caractéristiques dont vous avez besoin.

Utilisation générale

Utilisation spécialisée

Basique

Configuration simple avec fonctions de base

Standard

Facile à utiliser avec des mises à jour polyvalentes

Avancé

Inclut de nombreuses fonctionnalités de pointe

Fluorescence

Convient particulièrement pour
les observations en fluorescence

Infrarouge

Conçu pour utiliser le mode infrarouge pour inspecter des circuits intégrés

Lumière polarisée

Conçu pour l’observation de caractéristiques de biréfringence

Filtre de couleur LCD

Filtre de couleur LCD
(Transmission/Fond clair)

Microstructure avec grains ferritiques

Microstructure avec grains ferritiques
(Réflexion/Fond noir)

Fil de cuivre d’une bobine

Fil de cuivre d’une bobine
(fond clair + fond sombre/MIX)

Résistance sur un motif de circuit intégré

Résistance sur un motif de circuit intégré
(FL + fond noir/MIX)

Motif de circuit intégré à couches de silicium

Motif de circuit intégré à couches de silicium
(IR)

Amiante

Amiante
(POL)

Basique

Standard

Avancé

Fluorescence

Infrarouge

Lumière polarisée

Voir le tableau des caractéristiques techniques

Basique Standard Avancé Fluorescence Infrarouge Lumière polarisée
Statif de microscope Lumière réfléchie (R) ou Lumière réfléchie (R)/transmise (T) Lumière réfléchie (R) ou Lumière réfléchie (R)/transmise (T) Lumière réfléchie (R) Lumière transmise (T)
De série R-BF ou T-BF R-BF ou T-BF ou DF R-BF ou T-BF ou DF or MIX R-BF ou T-BF ou DF ou FL R-BF ou IR T-BF ou POL
Option CID CID/MIX CID CID/MIX
Illuminateur simple ■■
Légende de l’ouverture ■■■■
Matériel codé ■■■■
Indice de l’échelle de mise au point ■■■■■■
Gestionnaire d’intensité lumineuse ■■■■
Opération avec interrupteur □□■□
Observation MIX □□■□
Objectifs Au choix parmi 3 objectifs en fonction de vos utilisations Au choix parmi 3 objectifs en fonction de vos utilisations Objectifs pour IR Objectifs pour POL
Platine Choisissez parmi 5 platines selon la taille de vos échantillons Choisissez parmi 5 platines selon la taille de vos échantillons Platine pour POL

MÉTHODE D’OBSERVATION

R-BF : Fond clair (Lumière réfléchie)
T-BF : Fond clair (Lumière réfléchie/transmise)
DF : Fond noir
CID : Contraste interférentiel différentiel / Lumière polarisée simple
MIX : MIX
FL : Fluorescence
IR : Infrarouge
POL : Polarisation

* La méthode T-BF peut être utilisée lorsque le statif de microscope « Lumière réfléchie (R)/transmise (T) » est sélectionné.

■ : de série
□ : en option

Exemples de configurations pour les sciences des matériaux

La conception modulaire permet d’adapter le système aux besoins des utilisateurs.
Vous trouverez ci-dessous des exemples de configurations pour les sciences des matériaux.

Combinaison du BX53M en lumière réfléchie et réfléchie/transmise

Il existe deux types de statifs de microscope pour la série BX3M, l’un pour la lumière réfléchie uniquement, et l’autre pour les lumières réfléchie et transmise. Les deux statifs peuvent être configurés avec des composants manuels, à codage spécifique ou motorisés. Les statifs sont équipés de la fonctionnalité DES pour protéger les échantillons électroniques.

Exemple de configuration du BX53MRF-S

Exemple de configuration du BX53MRF-S

Exemple de configuration du BX53MTRF-S

Exemple de configuration du BX53MTRF-S

BX53M : système combiné de microscopie infrarouge (IR)

BX53M : système combiné de microscopie infrarouge (IR)

Des objectifs IR peuvent être utilisés pour les applications d’inspection, de mesure et de traitement de semi-conducteurs, lorsque l’imagerie à travers le silicone est requise pour l’affichage du motif. Les objectifs à infrarouge (IR) de X5 à X100 sont disponibles avec une correction d’aberration chromatique depuis les longueurs d’onde de la lumière visible à celles de l’infrarouge. Pour le travail à grossissement élevé, la rotation de la bague de correction de la série d’objectifs LCPLNIR permet de corriger les aberrations causées par l’épaisseur de l’échantillon. Un seul objectif permet d’obtenir une image nette.

Cliquez ici pour en savoir plus sur les objectifs IR

BX53M : système combiné de microscopie à lumière polarisée

Les objectifs du système combiné BX53M de microscopie à lumière polarisée fournissent aux géologues les outils dont ils ont besoin pour l’imagerie en lumière polarisée à contraste élevé. Dans le cadre d’utilisations telles que l’identification des minéraux, l’étude des caractéristiques optiques de cristaux et l’observation de sections de roche solide, les utilisateurs bénéficient de la stabilité du système et de la précision de l’alignement optique.

Configuration orthoscopique du BX53-P

Configuration orthoscopique du BX53-P

Configuration conoscopique/orthoscopique du BX53-P

Configuration conoscopique/orthoscopique du BX53-P

Lentille de Bertrand pour les observations orthoscopiques et conoscopiques

Grâce à l’accessoire d’observation conoscopique U-CPA, le basculement entre l’observation orthoscopique et l’observation conoscopique est simple et rapide. La mise au point est réglable pour distinguer clairement les structures d’interférence du plan focal arrière. Le diaphragme de champ de la lentille de Bertrand permet d’obtenir de façon constante des images conoscopiques claires et nettes.

Lentille de Bertrand pour les observations orthoscopiques et conoscopiques
Une large gamme de compensateurs et de lames d’onde

Une large gamme de compensateurs et de lames d’onde

Six compensateurs différents sont disponibles pour les mesures de la biréfringence dans les fines sections de roche et de minéraux. La gamme des niveaux de mesure de retardement est de 0 à 20λ. Pour une mesure facilitée et un contraste d’image élevé, il est possible d’utiliser les compensateurs de Berek et de Senarmont, qui peuvent modifier le niveau de retard dans tout le champ d’observation.

Plage de mesure des compensateurs

Compensateur Plage de mesure Utilisation principale
Berek épais (U-CTB) 0 à 11 000 nm
(20 λ)
Mesure de niveau de retard élevé (R*>3λ)
(cristaux, macromolécules, fibres, etc.)
Berek (U-CBE) 0 à 1 640 nm
(3 λ)
Mesure du niveau de retard
(cristaux, macromolécules, organismes vivants, etc.)
Compensateur de Senarmont (U-CSE) 0 à 546 nm
(1 λ)
Mesure du niveau de retard (cristaux, organismes vivants, etc.)
Amélioration du contraste d’image (organismes vivants, etc.)
Compensateur de Brace-Köhler
1/10λ (U-CBR1)
0 à 55 nm
(1/10 λ)
Mesure de niveau de retard faible (organismes vivants, etc.)
Amélioration du contraste d’image (organismes vivants, etc.)
Compensateur de Brace-Köhler
1/30λ (U-CBE2)
0 à 20 nm
(1/30 λ)
Mesure du contraste d’image (organismes vivants, etc.)
Quartz compensateur (U-CWE2) 500 à 2 200 nm
(4 λ)
Mesure approximative du niveau de retard
(cristaux, macromolécules, etc.)

*R = niveau de retard
Pour une mesure plus précise, il est recommandé d’utiliser les compensateurs (à l’exception du modèle U-CWE2) avec le filtre interférentiel 45-IF546.

Objectifs sans contrainte

Grâce à la conception sophistiquée et à la technologie de fabrication d’Olympus, les objectifs sans contrainte l’UPLFLN-P réduisent la contrainte interne au minimum. Ils apportent ainsi une valeur d’EF supérieure, ce qui se traduit par un excellent contraste d’image.

Cliquez ici pour en savoir plus sur les objectifs UPLFLN-P
Cliquez ici pour en savoir plus sur les objectifs PLN-P/ACHN-P
Système BXFM

Système BXFM

Le système BXFM peut être adapté pour des utilisations spéciales ou intégré à d’autres instruments. La conception modulaire permet une adaptation directe aux environnements et aux configurations uniques, avec différents petits illuminateurs spéciaux et montures de fixation.

Conception modulaire : configurez votre propre système

Statifs de microscope

Il existe deux statifs de microscope pour l’éclairage en réflexion ; l’un offre également une possibilité d’éclairage en transmission. Un adaptateur permet d’élever l’illuminateur pour accueillir des échantillons plus hauts.

Réflexion Transmission Hauteur de l’échantillon
1 BX53MRF-S 0 à 65 mm
2 BX53MTRF-S 0 à 35 mm
1, 3 BX53MRF-S +
BX3M-ARMAD
40 à
105 mm
2, 3 BX53MTRF-S +
BX3M-ARMAD
40 à
75 mm

Accessoires pratiques pour usage en microscopie

HP-2 Presse manuelle
COVER-018 Cache anti-poussières

Statifs de microscope

Socles

Pour les applications de microscopie dans lesquelles l’échantillon ne tient pas sur une platine, l’illuminateur et les optiques peuvent être montés sur une platine plus grande ou sur une autre partie de l’équipement.

Configuration d’illuminateur BXFM + BX53M

1 BXFM-F L’interface du statif est un montant pour fixation murale de 32 mm
2 BX3M-ILH Porte-illuminateur
3 BXFM-ILHSPU Ressort de comptoir pour BXFM
5 SZ-STL Pied large

Configuration d’illuminateur BXFM + U-KMAS

1 BXFM-F L’interface du statif est un montant pour fixation murale de 32 mm
4 BXFM-ILHS Support U-KMAS
5 SZ-STL Pied large

Socles

Têtes d’observation

Pour l’imagerie au microscope à l’aide d’oculaires ou pour l’observation par caméra, sélectionnez les têtes d’observation selon le type d’imagerie et la position de l’opérateur pendant l’observation.

Numéro de champ Type Type d’angle Image Nombre de mécanismes
de réglage dioptrique
1 U-TR30-2 22 Trinoculaire Fixe Inversée 1
2 U-TR30IR 22 Trinoculaire pour IR Fixe Inversée 1
3 U-ETR-4 22 Trinoculaire Fixe Droite
4 U-TTR-2 22 Trinoculaire Incliné Inversée
5 U-SWTR-3 26,5 Trinoculaire Fixe Inversée
6 U-SWETTR-5 26,5 Trinoculaire Incliné Droite
7 U-TLU 22 Port simple
8 U-SWATLU 26,5 Port simple
Tubes optiques

Illuminateurs

Le projecteur de lumière projette la lumière sur l’échantillon selon la méthode d’observation sélectionnée. Le logiciel identifie le code spécifique des illuminateurs, localise la position du bloc et reconnaît automatiquement la méthode d’observation.

Illuminateurs

Fonction codée Source de lumière BF DF CID POL IR FL MIX AS/FS
1 BX3M-RLAS-S 3 positions de cube fixes DEL — intégrée
2 BX3M-URAS-S 4 positions de cube ajustables DEL
Halogène
Guide fibré lumière/Mercure
3 BX3M-RLA-S

DEL
Halogène
4 BX3M-KMA-S

DEL — intégrée
5 BX3-ARM Bras mécanique pour observation en transmission
6 U-KMAS

DEL
Halogène

Sources de lumière

Sources de lumière et blocs d’alimentation utilisés pour l’éclairage des échantillons. Choisissez la source de lumière appropriée pour la méthode d’observation.

Sources de lumière

Configuration de source de lumière DEL standard

1 BX3M-LEDR Boîtier de lampe DEL pour lumière incidente
2 U-RCV Convertisseur DF pour BX3M-URAS-S, requis pour l’observation avec DF et BF si nécessaire
3 BX3M-PSLED Alimentation pour boîtier de lampe DEL, requiert le système BXFM
4 BX3M-LEDT Boîtier de lampe DEL pour observation en transmission

Configuration de source de lumière de fluorescence

5 U-LLGAD Adaptateur pour guide-lumière
2 U-RCV Convertisseur DF pour BX3M-URAS-S, requis pour l’observation avec DF si nécessaire
6 U-LLG150 Guide lumineux, longueur : 1,5 m
7 U-LGPS Source de lumière pour fluorescence
8, 9 U-LH100HG (HGAPO) Boîtier de lampe à mercure pour fluorescence
2 U-RCV Convertisseur DF pour BX3M-URAS-S, requis pour l’observation avec DF si nécessaire
10 U-RFL-T Alimentation pour lampe au mercure 100 W

Configuration de source de lumière halogène et infrarouge halogène

11 U-LH100IR Boîtier de lampe halogène pour infrarouge
12 U-RMT Câble d’extension pour boîtier de lampe halogène, longueur de câble 1,7 m (requiert un câble de rallonge si nécessaire)
13, 14 TH4-100 (200) Alimentation répondant à la spécification 100 V (200 V) pour lampe à halogène 100 W/50 W
15 TH4-HS Interrupteur de réglage de l’intensité lumineuse de l’halogène (variateur TH4-100 [200]) sans interrupteur)

Tourelles porte-objectifs

Fixation pour objectifs et glissières. Effectuez votre sélection selon le nombre d’objectifs nécessaires et leurs types ; également avec/sans glissière.

Tourelles porte-objectifs

Type Orifices BF (fond clair) DF CID MIX ESD Nombre d’orifices
trous de centrage
1 U-P4RE Manuel 4

4
2 U-5RE-2 Manuel 5

3 U-5RES-ESD Codé 5

4 U-D6RE Manuel 6

5 U-D6RES Codé 6

6 U-D5BDREMC Motorisé 5

7 U-D6BDRE Manuel 6

8 U-D5BDRES-ESD Codé 5

9 U-D6BDRES-S Codé 6

10 U-D6REMC Motorisé 6

11 U-D6BDREMC Motorisé 6

12 U-D5BDREMC-VA Motorisé 5

Glissières

Utilisez la glissière pour compléter l’observation en fond clair classique. La glissière CID fournit des informations topographiques sur l’échantillon avec des options pour optimiser le contraste ou la résolution. La glissière MIX fournit une grande flexibilité d’éclairage grâce à une source lumineuse à DEL segmentée intégrée dans la trajectoire du fond noir.

Glissières

Glissière DIC

Type Quantité de cisaillement Objectifs disponibles
1 U-DICR Standard Médium MPLFLN, MPLAPON, LMPLFLN et LCPLFLN-LCD

Glissière MIX

Objectifs disponibles
2 U-MIXR MPLFLN-BD, LMPLFLN-BD, MPLN-BD

Câble

U-MIXRCBL* Câble U-MIXR, longueur du câble : 0,5 m

* MIXR uniquement

Consoles de commande et interrupteurs

Consoles de connexion du microscope à un PC et interrupteurs de contrôle des éléments du microscope et de réglage de l’affichage.

Configuration BX3M-CB (CBFM)

1 BX3M-CB Console de commande pour le système BX53M
2 BX3M-CBFM Console de commande pour système BXFM
3 BX3M-HS Contrôle d’observation MIX, indicateur de matériel codé, bouton de fonction programmable du logiciel (PRECiV)
4 BX3M-HSRE Rotation de la tourelle porte-objectifs motorisée

Câble

BX3M-RMCBL (ECBL) Câble pour tourelle porte-objectifs motorisée, longueur du câble : 0,2 m

Boîtiers de commande et interrupteurs manuels

Platines

Platines et supports de platine pour placement d’échantillon. Effectuez votre choix selon la forme et la taille de l’échantillon.

Platines

Configuration de platine 150 mm × 100 mm

1 U-SIC64 Platine à poignée supérieure plane 150 mm × 100 mm
2 U-SHG (T) Poignée de commande en caoutchouc de silicone pour un confort amélioré (type épais)
3 U-SP64 Support de platine pour U-SIC64
4 U-WHP64 Plaque pour wafer U-SIC64
5 BH2-WHR43 Support de wafer de 4–3 pouces
6 BH2-WHR54 Support de wafer de 5–4 pouces
7 BH2-WHR65 Support de wafer de 6–5 pouces
8 U-SPG64 Plaque de verre pour U-SIC64

Configuration de platine 76 mm × 52 mm

13 U-SVR M Platine à poignée sur la droite 76 mm × 52 mm
2 U-SHG (T) Poignée de commande en caoutchouc de silicone pour un confort amélioré (type épais)
14 U-MSSP Support de platine pour U-SVR (/L) M
15, 16 U-HR (L) D-4 Support de lame fine pour ouverture droite (gauche)
17, 18 U-HR (L) DT-4 Porte-lame épais pour l’ouverture droite (gauche), pour presser la lame de verre sur la surface supérieure de la platine, l’échantillon est difficile à soulever

Configuration de platine 100 mm × 100 mm

9 U-SIC4R 2 Platine à poignée sur la droite 105 mm × 100 mm
10 U-MSSP4 Support de platine pour U-SIC4R (L) 2
11 U-WHP2 Plaque pour wafer pour U-SIC4R (L) 2
6 BH2-WHR43 Support de wafer de 4–3 pouces
12 U-MSSPG Plaque de verre pour U-SIC4R

Autres

19 U-SRG2 Platine rotative
20 U-SRP Platine rotative pour POL, peut être tournée à 45° dans toutes les positions, butée à déclic
21 U-FMP Platine mécanique pour U-SRP/U-SRG

Adaptateurs caméra

Adaptateurs pour l’observation par caméra. Effectuez votre choix selon le champ d’observation et le grossissement requis. La plage d’observation réelle peut être calculée à l’aide de cette formule : champ d’observation réel (diagonale en mm) = champ d’observation (valeur d’observation) ÷ grossissement de l’objectif.

Adaptateurs caméra

Grossissement Réglage du centrage Surface d’image CCD (numéro de champ) – mm
2/3 po 1/1,8 po 1/2 po
1 U-TV1x-2 avec U-CMAD3 1 10,7 8,8 8
2 U-TV1XC 1 ø 2 mm 10,7 8,8 8
3 U-TV0.63xC 0,63 17 14 12,7
4 U-TV0.5xC-3 0,5 21,4 17,6 16
5 U-TV0.35xC-2 0,35 22
6 U-TV0.25xC 0,25

Oculaires

Oculaires pour observation directe dans le microscope. Effectuez votre sélection selon le champ de vision souhaité.

FN (mm) Mécanisme de réglage dioptrique Réticule de visée intégré
1 WHN10x 22

2 WHN10X-H 22

3 CROSS WHN10X 22
4 SWH10x-H 26,5

5 CROSS SWH10X 26,5
Oculaires

Filtres optiques

Les filtres optiques convertissent la lumière d’exposition de l’échantillon en différents types d’illumination. Choisissez le filtre adapté au type d’observation.

Filtres optiques

BF, DF, FL

1, 2 U-25ND25,6 Filtre de densité neutre, facteur de transmission 25 %, 6 %
3 U-25LBD Filtre couleur lumière du jour
4 U-25LBA Filtre couleur halogène
5 U-25IF550 Filtre vert
6 U-25L42 Filtre anti-UV
7 U-25Y48 Filtre jaune
8 U-25FR Filtre de Frost (obligatoire pour le BX3M-URAS-S)

POL, CID

9 U-AN-2 La direction de la lumière polarisée est fixe.
10 U-AN360-3 La direction de la lumière polarisée est rotative.
11 U-AN360P-2 La direction de la lumière polarisée de haute qualité est rotative.
12 U-PO3 La direction de la lumière polarisée est fixe.
13 U-POTP3 La direction de la lumière polarisée est fixe, pour une utilisation avec l’U-DICRH.
14 45-IF546 Filtre vert ø 45 mm pour POL

IR

15 U-AN360IR La direction de polarisation IR est rotative (réduit le halo en observation IR lors d’une utilisation en association avec U-AN360IR et U-POIR).
16 U-POIR La direction de la polarisation IR est fixe.
17 U-BP1100IR Filtre passe-bande : 1 100 nm
18 U-BP1200IR Filtre passe-bande : 1 200 nm

Lumière transmise

19 43IF550-W45 Filtre vert ø 45 mm
20 U-POT Filtre de polariseur

Autres

22 U-25 Filtre vide, à utiliser avec les filtres de 25 mm de diamètre de l’utilisateur

* AN et PO ne sont pas nécessaires lors de l’utilisation du BX3M-RLAS-S et de l’U-FDICR

Condenseurs

Les condenseurs recueillent et concentrent la lumière transmise. À utiliser pour la microscopie en lumière transmise.

1 U-AC2 Condenseur d’Abbe (disponible pour les objectifs 5X et plus)
2 U-SC3 Condenseur pivotant (disponible pour les objectifs 1,25X et plus)
3 U-LWCD Condenseur à grande distance de travail pour plaque en verre
(U-MSSPG, U-SPG64)
4 U-POC-2 Condenseur pivotant pour POL
Condenseurs

Miroirs

Miroir pour bloc projecteur de lumière BX3M-URAS-S. Choisissez le miroir adapté au type d’observation.

1 U-FBF Pour BF, filtre ND amovible
2 U-FDF Pour DF
3 U-FDICR Pour POL, la position du Nicol croisée est fixe
4 U-FBFL Pour BF, filtre ND intégré (il est nécessaire d’utiliser BF* et FL)
5 U-FWUS Pour ultraviolet-FL : BP330-385 BA420 DM400
6 U-FWBS Pour bleu-FL : BP460-490 BA520IF DM500
7 U-FWGS Pour vert-FL : BP510-550 BA590 DM570
8 U-FF Miroir vide

* Pour éclairage épiscopique coaxial uniquement.

Miroirs

Modules intermédiaires

Une gamme d’accessoires adaptés à tous les types d’utilisations. Pour une utilisation entre la tête d’observation et l’illuminateur.

1 U-CA Changeur de grossissement (X1/X1,25/X1,6/X2)
2 U-TRU Unité intermédiaire trinoculaire
Modules intermédiaires

Objectifs UIS2

Les objectifs assurent le grossissement de l’échantillon. Sélectionnez l’objectif qui correspond à la distance de travail, au pouvoir de résolution et à la méthode d’observation pour l’utilisation envisagée.

Cliquez ici pour en savoir plus sur les objectifs UIS2

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