L’équipe de spécialistes des applications d’Olympus travaille au développement d’applications uniques et intéressantes de nos produits et à la résolution des problèmes que posent parfois certaines applications d’analyse. Cet article, et les prochains de cette série nous permettront de vous présenter les membres de cette équipe, à commencer par Dillon McDowell. Dillon est un spécialiste des applications expert de l’analyse par fluorescence X (XRF), une technique non destructive de mesure de la composition élémentaire.
Q : Quel est le rôle du spécialiste des applications chez Olympus ?
Dillon : À titre de spécialiste des applications, mon rôle est très variable d’un jour à l’autre. Il peut s’agir de faire la résolution de problème pour une nouvelle application d’un client, de tester une nouvelle fonction intégrée à un appareil, ou encore de soutenir notre équipe de production lors du lancement de nouvelles mises à jour de nos processus d’étalonnage. Chaque jour qui passe apporte son lot de défis, il est donc rare que je m’ennuie !
Regardez cette vidéo dans laquelle Dillon explique comment créer un nouveau profil d’utilisateur dans l’analyseur XRF Vanta™.
Q : Parlez-nous de votre parcours scolaire et professionnel et expliquez-nous comment vous en êtes venu à vous intéresser à la technologie XRF.
Dillon : Je suis titulaire d’un baccalauréat en physique et d’une maîtrise en génie mécanique de l’université de Northeastern. Avant me joindre à l’équipe d’Olympus, j’étais assistant de recherche pour le groupe de recherche sur le nanomagnétisme, où j’ai effectué des travaux sur différents types de nanomatériaux afin d’en étudier les propriétés magnétiques et optiques, notamment les nanofils de nitrure de gallium. Comme une grande partie de mon travail était axée sur la caractérisation de ces matériaux, j’ai eu l’occasion d’utiliser plusieurs types de techniques de spectroscopie, notamment la fluorescence des rayons (XRF) et la diffraction des rayons X (XRD).
Pendant mes études de physique à Northeastern, j’ai eu la chance de participer à leur programme d’alternance travail-études, ce qui m’a permis d’acquérir une expérience concrète en travaillant pour différents groupes de recherche et entreprises privées. Les tâches pour lesquelles je devais utiliser une technologie avancée pour la mesure et la caractérisation des matériaux me semblaient les plus fascinantes, ce qui m’a donc poussé à poursuivre une carrière dans ce domaine.
Q : Sur quels types de projets travaillez-vous chez Olympus ?
Dillon : J’ai aidé plusieurs clients pour l’intégration de la technologie XRF à leurs processus, généralement en développant des étalonnages personnalisés adaptés à leurs besoins et à leurs matériaux spécifiques. Je travaille également sur des projets internes d’Olympus visant à améliorer les méthodes et les modes d’analyse existants, notamment l’optimisation des étalonnages que nous effectuons en usine.
Q : Pouvez-vous nous rapporter une anecdote intéressante concernant la technologie XRF ?
Dillon : Les détecteurs intégrés aux appareils XRF doivent être refroidis à des températures inférieures à zéro, même dans nos analyseurs à main. Les anciens appareils de laboratoire utilisaient à cette fin d’imposants systèmes à l’azote liquide, alors que dorénavant, on obtient le même résultat grâce à un refroidisseur thermoélectrique de faible puissance intégré à nos appareils portables. Le détecteur peut donc être maintenu à une température inférieure à zéro sans qu’un liquide de refroidissement soit nécessaire, et ce, même dans des environnements extérieurs difficiles !
Q : Vous vient-il à l’esprit une application particulière de la technologie XRF ?
Dillon : Peut-être est-ce l’intello en moi qui parle, mais je pense à cette application où l’utilisateur final souhaitait contrôler l’importance des dépôts métalliques dans les tuiles d’un bouclier thermique utilisées pour revêtir un réacteur de fusion expérimental. Durant le fonctionnement, divers métaux peuvent se déposer dans ces tuiles, ce qui peut nuire aux champs magnétiques utilisés pour contenir les plasmas à haute température dans le réacteur, raison pour laquelle on a pensé à utiliser un analyseur XRF portable pour le contrôle périodique de la teneur en métal des tuiles et voir si elles devaient être remplacées. Voilà un des projets très intéressants sur lequel j’ai travaillé !
Q : Quel aspect de votre travail préférez-vous ?
Dillon : J’ai l’occasion d’apprendre beaucoup de choses sur un grand nombre d’industries différentes. Pour me permettre d’adapter la technologie XRF de manière optimale aux besoins de nos clients, je dois faire des recherches pour en apprendre davantage sur des industries que je ne connaissais pas auparavant ; cela me permet de comprendre les défis auxquels chacune d’entre elles est confrontée. Cela me donne une bonne idée de la façon dont les différents fabricants travaillent et me fait apprécier le travail considérable que suppose la fabrication des divers produits manufacturés que nous tenons généralement pour acquis.
Q : Comment occupez-vous votre temps libre ?
Dillon : Je me suis beaucoup adonné aux activités de plein air durant mon enfance, alors je voyage beaucoup, je fais du camping et de la randonnée dès que je peux. J’aime aussi jouer à toutes sortes de jeux – jeux de société, jeux de cartes, jeux vidéo, auxquels, heureusement, ma famille et mes amis aiment aussi participer ! Ma conjointe et moi aimons aussi cuisiner et faire de la pâtisserie... bien qu’elle soit définitivement la meilleure pâtissière !
Q : Avez-vous des conseils à donner aux utilisateurs d’analyseurs XRF ?
Dillon : Le meilleur conseil que je puisse donner à tout utilisateur est d’établir un plan d’analyse : fixez clairement les objectifs et configurez votre analyseur et vos méthodes d’analyse pour les atteindre le plus efficacement possible. Bien que la technologie XRF est plus facile à utiliser que jamais, il est toujours possible de se tromper en lançant l’analyse sans avoir d’abord sélectionné la bonne configuration. N’oubliez pas que la qualité de vos résultats relève directement de la qualité de vos méthodes d’analyse.
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