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Velocidad

Obtenga respuestas rápidamente: escaneos de alta velocidad

El algoritmo de escaneo del microscopio ofrece datos de calidad mejorada y una velocidad superior para reducir el tiempo de escaneo y poder racionalizar su flujo de trabajo para conseguir una productividad superior.


Algoritmo de pico

Algoritmo de pico

Muestra con una altura de 80 nm estándar VLSI (MPLFLN10XLEXT) 

El microscopio OLS5000 incorpora un algoritmo de PICO para efectuar mediciones de datos en 3D. Este algoritmo proporciona datos muy precisos desde altas y bajas magnificaciones, además de reducir el tiempo de adquisición de datos.


Omisión de escaneo

Al medir la forma de los pasos en una muestra que contienen planos casi verticales, como un componente electrónico o MEMS, el tiempo de adquisición de datos puede reducirse limitando el rango de escaneo en la dirección Z.
Puede medir un paso de 700 μm en tan solo 15 segundos sin reducir el nivel de precisión (si se utiliza el objetivo MPLAPON20x).


Técnicas adicionales para mejorar la velocidad

  • Escaneo de banda
  • Adquisición de datos de 1 línea

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La información contenida en esta página, que comprende la garantía de precisión, se basa en las condiciones especificadas por Olympus.

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