El sistema permite llevar a cabo mediciones precisas en 3D en una amplia gama de tipos de muestras y ofrece datos fiables para los controles de aseguramiento de calidad y procesos.
El láser violeta de 405 nm y los objetivos especiales de alta apertura numérica permiten capturar patrones finos y defectos que los microscopios ópticos convencionales, los interferómetros de luz blanca o los microscopios basados en láser rojo no pueden detectar. | ||
Tipo rojo (685 nm: 0,26 μm línea y espacio) | Tipo violeta (405 nm: 0,12 μm línea y espacio) |
Los objetivos especiales LEXT pueden medir con precisión las áreas periféricas que de otro modo se distorsionarían. | |
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El escáner MEMS lleva a cabo escaneos X-Y muy precisos mediante una baja distorsión de traza de escaneo y mínimas aberraciones ópticas. |
La tecnología de escaneo 4K escanea 4906 píxeles a una velocidad cuatro veces más rápida que la de los modelos anteriores en la dirección del eje X. |
Los microscopios láser convencionales utilizan técnicas de procesamiento de imágenes estándar, como el suavizado, para eliminar el ruido; por ello, algunas veces pierden precisión a la hora de medir irregularidades finas de altura con el ruido. |
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La información contenida en esta página, que comprende la garantía de precisión, se basa en las condiciones especificadas por Olympus.