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Analizador XRF portátil Vanta dotado de los beneficios del grafeno

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El detector de rayos X de su analizador se dota de una pequeña ventana por la cual entran los rayos X para alcanzar el detector. Sin ella, el analizador no funcionaría. El material del cual está compuesta la película de esta ventana es sumamente importante ya que tiene efectos sobre el rendimiento de su dispositivo. Los elementos ligeros (como el magnesio, aluminio y dióxido de silicio) presentan los rayos X más débiles; por lo tanto, mientras la película de la ventana sea más fina, mayor será la transmisión de rayos X hacia el detector. Si el detector recibe más rayos X, mejor será la sensibilidad de su analizador XRF.

Por mucho tiempo, las ventanas se han dotado de películas hechas de berilio. El berilio es un elemento muy ligero, pero complejo para fabricarlo: frágil, quebradizo y tóxico. Incluso toques relativamente suaves pueden dañar la película de la ventana. Y, de romperse, necesita ser reemplazada. La mayor parte de películas de berilio presentan 8 micras de espesor o son más gruesas.

Los analizadores Vanta, modelo VMR, están equipados con las ventanas de grafeno para el detector y presentan un espesor de tan solo 0,9 micras, lo que permite una mejor detección de los elementos ligeros en comparación con las películas de berilio.

Ventana con película de grafeno para el analizador Vanta

Ventajas del grafeno

El grafeno está hecho de carbono; a pesar de ello, la película es muy fina e increíblemente resistente. Las películas de grafeno permiten una mayor transmisión de rayos X a través de ellas. Esto incrementa la sensibilidad del analizador para los elementos ligeros clave, como el magnesio (Mg), el aluminio (Al), silicio (Si). Por otro lado, el grafeno no es tóxico a diferencia del berilio.

Los beneficios exclusivos del grafeno permiten al modelo VMR del analizador XRF portátil Vanta:

  • Detectar porcentajes de magnesio (Mg) en aleaciones de aluminio de manera más rápida (0,53 % de Mg con el segundo haz en un ensayo de 3 segundos).
  • Lograr límites más cortos de detección para el aluminio (Al) en aleaciones de níquel.
  • Medir el dióxido de silicio (o silicio) por debajo de 1000 ppm en aceros de baja aleación de manera más rápida y con mayor precisión.
  • Medir el tenor de fósforo (P) y azufre (S) en aceros de baja aleación por debajo del 0,035%

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¿Cómo las recientes innovaciones en los analizadores XRF portátiles repercuten en los ensayos PMI para aleaciones?

Vanta para PMI

Portable Products Manager, Analytical Instruments

Ted has worked at Olympus for more than 11 years and has overseen the introduction of numerous innovations to the XRF product lines with a focus on bringing laboratory-quality data to the portable market. Ted has a Master's degree in Applied Physics and holds four patents.

abril 3, 2018
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