Medición de la forma a escala micrométrica con un microscopio láser
Tarjeta de memoria
(1) Aplicación
Las tarjetas de memoria presentan varias dimensiones y son ampliamente usadas como medio de almacenamiento destinado a las cámaras digitales, teléfonos celulares y dispositivos de grabación, etc. Las tarjetas son introducidas en las ranuras de estos dispositivos y su rugosidad superficial tiene efectos en la facilidad de inserción. Ya que el nivel de rugosidad superficial de las tarjetas determina su valor comercial, su medición es importante en los controles de calidad. El control de calidad con medidores convencionales de rugosidad presenta limitaciones debido al contacto requerido con la superficie bajo inspección; y, por lo general, estos solo miden la altura (rugosidad) a lo largo de una sola línea de desplazamiento.
(2) Solución
El microscopio de escaneo láser 3D LEXT OLS5000 de Olympus otorga perfiles de alta resolución y precisión de la muestra en 3D sin establecer ningún contacto con la superficie examinada. A los efectos de este, los usuarios pueden obtener imágenes claras y de alta resolución mediante el uso de un sistema óptico confocal. El sistema usa parámetros tridimensionales de rugosidad, conformes a la normativa ISO 25178, lo que permite una evaluación del área superficial sin contacto. Su amplia evaluación superficial es idónea en irregularidades aleatorias, proporcionando de esta manera más información de medición a diferencia de los medidores de rugosidad convencionales, cuya medición se ejecuta a lo largo de una sola línea. El microscopio OLS5000 también incluye la función estándar de platina automática, la cual facilita la adquisición de datos a partir de múltiples puntos en la superficie al grabar coordenadas de medición y usar la función mosaico.
Imágenes
(1) Muestra A (objetivo: 20X; campo de visión efectivo: 640 µm） | ||
Punto de medición 1 |
Punto de medición 2 |
Punto de medición 3 |
| Parámetro | Sq [µm] | Sa [µm] | Sz [µm] | Sku [µm] |
| Punto 1 | 3,5 | 2,897 | 26,501 | 2,518 |
| Punto 2 | 3,766 | 3,033 | 30,446 | 2,966 |
| Punto 3 | 3,626 | 2,955 | 25,5 | 2,741 |
| Promedio | 3,631 | 2,962 | 27,482 | 2,742 |
| Desviación estándar | 0,133 | 0,068 | 2,615 | 0,224 |
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Punto de medición 1 |
Punto de medición 2 |
Punto de medición 3 |
| Parámetro | Sq [µm] | Sa [µm] | Sz [µm] | Sku [µm] |
| Punto 1 | 1,608 | 1,259 | 17,946 | 3,833 |
| Punto 2 | 1,579 | 1,241 | 18,158 | 3,86 |
| Punto 3 | 1,646 | 1,296 | 22,166 | 3,936 |
| Promedio | 1,611 | 1,265 | 19,423 | 3,876 |
| Desviación estándar | 0,034 | 0,028 | 2,378 | 0,053 |
