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Lösungen von Olympus für Elektronikgeräte

Elektronikgeräte werden immer kleiner und damit auch ihre Komponenten. Die Prüfung von Mikroschaltungen, Halbleiterwafern und anderen elektronischen Bauteilen ist eine Herausforderung, denn schon ein winziges Schmutzpartikel kann eine Fehlfunktion verursachen.

Hersteller verwenden Mikroskope mit hochwertigen Optiken, um Lötverbindungen in Schaltkreisen, den Zustand von Drähten in Leiterplatten und die Bauteile auf Verunreinigungen zu prüfen. Bei einigen Anwendungen wird die Rauheit der in einem Gerät verwendeten Komponenten mit berührungslosen konfokalen Lasermikroskopen gemessen, um die Einhaltung der strengen Normen sicherzustellen.

Lösungen für die Messung und Prüfung von 5G-Geräten

Lösungen für die Messung und Prüfung von 5G-Geräten

Mikroskoplösungen für die Halbleiterfertigung

Mikroskoplösungen für die Leiterplattenherstellung

Mikroskoplösungen für die Herstellung von Lithium-Ionen-Batterien

Weitere Ressourcen

Blog

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5 Vorteile des digitalen DSX1000 Mikroskops

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Toy Trouble: Detecting Hazardous Materials in a Popular Toy

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Röntgenfluoreszenzanalyse von Verbraucherprodukten mit dem Vanta Handanalysator

Der Trend zur LED-Beleuchtung in der Mikroskopie

Unter dem Stereomikroskop

The Benefits of a Fully Motorized Microscope System

Von der Köhlerschen Beleuchtung profitieren

Was kann eine Bilddatenbank für Sie tun?

Neue Video-Tutorials, die das optimale Arbeiten mit einem Dickenmesser unterstützen

Anwendungsbeispiele

プリント基板（PCB）における不良解析の課題と解析事例紹介

Using a High-Resolution Digital Microscope to Perform Highly Accurate Thickness Measurements of the Internal Layer of a Multilayer Ceramic Condenser

High-precision three-dimensional measurement : Measuring the shape of microchannels with a 3D laser microscope (Japanese only)

Measuring the Circuit Shape of a Printed Wiring Board Using a Digital Microscope

Inspecting Glass Fiber Peeling in a Printed Wiring Board’s Glass Epoxy Substrate—Clear Images Are Essential for Quality Control

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Vollständige Prüfung von Kontaktstiften dank der große Tiefenschärfe des digitalen Mikroskops

Prüfung von Bonddrähten mit einem Digitalmikroskop

Inspecting the Cavity Profile of Xenon Difluoride (XeF2) Etched Silicon (Si) Wafers for Suspended Antenna-Coupled Nanothermocouples

Measuring the Profile of a Bonding Wire Ball

Measuring the Thickness of Photoresist Film

Height Measurement of Microscopic Bumps on an Integrated Circuit

Measuring the shape of scratches on vehicle-mounted camera lenses

Measuring the shape of an automotive millimeter-wave radar’s circuit board

Measuring the Layer Profiles of Thin-Film Solid-State Lithium-Ion Batteries Manufactured Using the Inkjet Technique

Messung der Oberflächenrauheit eines Leadframe-Diepads

Measuring the Roughness of Lithium-Ion Battery Electrodes Using a Laser Microscope

Messung der Oberflächenrauheit von Lithium-Ionen-Batterie-Elektrodenkollektoren

Using a microscope to inspect the solder wettability of mounting components

Observing the Surface Condition of Separators in Lithium-Ion Batteries Using a Scanning Probe Microscope (SPM) Combined with a Laser Microscope

Oberflächenrauhigkeitsbewertung von Speicherkarten

Schaltkreisstruktur-Prüfung bei Wafer-Proben

Using Image Analysis Software to Measure Throwing Power or PCB Copper Plating Thickness Uniformity

Wiring Inspections for Flexible Printed Circuit Boards (PCBs)

Messung des Gold-Flächenverhältnisses für Bond-Flächen nach Entfernung von Lötperlen

Verunreinigungen in Durchgangsbohrungen von Leiterplatten (PCBs)

Vermessung von geprägtem Trägerband für Kondensatoren

Step measurement of transparent film applied to a glass surface

Evaluating the Coating on a Smartphone Housing / Film thickness measurement and 3D surface profile measurement using a laser microscope

Roughness Evaluation of the Inner Lead of a Lead Frame / Surface roughness measurement of a micro area using a laser microscope

Oberflächenprofilbewertung von Diffusorplatten für LCDs / Berührungslose 3D-Formmessung mit einem Lasermikroskop

Evaluating the Shape of the Landing Zone Pattern and Contaminants on a Hard Disk / All-in-one system of optical, laser, and probe microscope capabilities provides seamless measurement from the millimeter to nanometer level.

Oberflächenprofil der Lichtleiterplatte für LCDs / Berührungslose 3D-Formmessung mit einem Lasermikroskop

Quantitative Investigations of the Interconnect

Looking towards a Future of Affordable Solar Energy

Studying the Electro-mechanical Behavior of Thin Films

Messung der Oberflächenrauheit von flexiblen Leiterplatten mit dem konfokalen OLS4100 Laser-Mikroskop von Olympus

Evaluating the Contacting Terminals of Wafer Level Chip Size Packages (CSPs) using the Olympus OLS4100 Laser Confocal Microscope

Konfokales OLS5000 Laser-Mikroskop von Olympus zur Messung der Oberflächenrauheit von Leiterplatten

Sectioning Analysis for Ball Grid Array (BGA) Surface Mounting of Semiconductor Package using the Olympus OLS5000 Laser Confocal Microscope

Setting standards in optical metrology at the PTB

Inspection of PGA packaging

BGA-Querschnittsanalyse

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The Benefits of Handheld XRF for Medical Device RoHS Compliance

The future of industrial quality control

Quilt Packaging: Lining Up an Array of Opportunities

HHXRF Analysegeräte für das Screening von Konsumgütern auf Blei (Pb), Cadmium (CD) und anderen Metallen

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RVI Tutorial Video Series—Inspection Management with the IPLEX™ NX Videoscope

IE Japan Seminar: DSX1000 Solution

IE Japan Seminar: Microscope Solution

IE Japan Seminar: Stereo Microscope and Digital Camera Solution

DSX1000: Demonstration Guaranteed The Accuracy and Repeatability

DSX1000: Demonstration Stiching Function

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DSX1000: Demonstration Various Observation Method With One Touch

DSX1000: Demonstration Best Image Function

DSX1000: Demonstration Free Angle Observation System

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Lösungen von Olympus für die Elektronikindustrie

DSX1000: Werbevideo

Vanta Video-Tutorial: Kurzeinführung in die Vanta PC-Software

CIX100 - Technical Cleanliness Inspection System

Proper Setup of a Basic Stereo Microscope

BX3M Produktübersicht

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GoldXpert - Produktübersicht

OLYMPUS Stream - 3D-Bildgebung und Bildvermessung

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38DL PLUS - Produktübersicht

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Lösungen

Vanta für die Qualitätssicherung und -kontrolle bei der Herstellung

DELTA Röntgenfluoreszenzhandgerät zur Analyse von Legierungen und Metallen

Webinar

Webinar - XRF as Part of a Reasonable Testing Program for Consumer Products Regulations

Whitepaper

Hochfrequnz-Ultraschallprüfung zum Auflösen von kleinsten Einschlüssen

Roughness Measurement with LEXT, Laser Scanning Microscopes

Basic Principles of Laser Scanning Microscopes

Seminar

Seminare zur Ultraschall-Prüftechnik

Einführung in die Gruppenstrahlertechni

Tutorial Wirbelstrom-Array

Tutorial - Inhaltsverzeichnis

FAQ

FAQ Ultraschallprüfung

Wörterbuch für Industriemikroskope

Häufig gestellte Fragen zu den Schallköpfen

Handbücher

Reihe Vanta Röntgenfluoreszenzanalysator Kurzanleitung

Dokumentationen

LEXT Roughness measurement guidebook

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