Olympus Logo

Kontakt Kontakt

  • Produkte▾
    • ZfP-Lösungen▾
      • Prüfgeräte / Phased-Array-Prüfgeräte▾
        • Ultraschallprüfgeräte
        • Phased-Array-Geräte (Gruppenstrahlertechnik)
        • Wirbelstromgeräte
        • Wirbelstrom-Array-Geräte
        • Bindungsprüfung
      • Dickenmesser▾
        • 27MG
        • 45MG
        • 38DL PLUS
        • Magna-Mike 8600
        • 35RDC
        • Schallköpfe und Zubehör
      • Prüf- und Messköpfe, Sonden und Sensoren▾
        • Ultraschallköpfe
        • Wirbelstromsonden
        • Sensoren für die Röhrenprüfung
        • Phased-Array-Sensoren
        • BondMaster Probes
      • Automatisierte Prüfsysteme▾
        • Prüfsystem für Eisenbahnräder
        • Lösungen für die Stabprüfung
        • Lösungen für die Rohrprüfung
        • Friction Stir Weld Inspection System
      • ZfP-Systemkomponenten▾
        • FOCUS PX / PC / SDK
        • QuickScan
      • Industriescanner für die zerstörungsfreie Prüfung▾
        • Scanner zur Schweißnahtprüfung
        • Scanner zur Korrosionsprüfung
        • Scanner zur Prüfung in der Luft- und Raumfahrt/von Rotorblättern
        • Scanner-Zubehör
      • Olympus Scientific Cloud
    • Analysatoren zur XRF (RFA) und XRD▾
      • RFA-Handanalysatoren▾
        • Vanta
        • Vanta Element Analysator
        • DELTA Professional
      • Kompakte und portable RFA-Analysatoren▾
        • Vanta
        • Vanta Element
        • GoldXpert
        • Mobiler RFA-Tischanalysator Xpert für Verbrauchersicherheit gemäß RoHS-Richtlinien
      • Online RFA-Analysatoren▾
        • Vanta iX
      • XRD-Analysatoren▾
        • Portabler TERRA II XRD-Analysator
        • BTX III XRD-Tischanalysator
      • OEM-Lösungen▾
        • X-STREAM
      • Anwendungen und Lösungen
      • Olympus Scientific Cloud
    • Mikroskop-Lösungen▾
      • Scanning Probe Microscopy▾
        • OLS4500
      • Konfokale Lasermikroskope▾
        • OLS5100
      • Digitale Mikroskope
      • Messmikroskope▾
        • STM7
        • STM7-BSW
      • Inspector Serie für technische Sauberkeit▾
        • OLYMPUS CIX100
      • Lichtmikroskope▾
        • Aufrechte Mikroskope
        • Inversmikroskope
        • Modular aufgebaute Mikroskope
      • Mikroskope für die Prüfung von Halbleitern und Flachbildschirmen▾
        • MX63 / MX63L
        • Al120
        • AL120-12
      • Stereomikroskope▾
        • SZX16
        • SZX10
        • SZX7
        • SZ61/SZ51
      • Digitalkameras▾
        • DP28
        • DP74
        • SC180
        • DP23
        • LC30
        • XM10
        • XM10IR
      • Bildanalysesoftware▾
        • OLYMPUS Stream
      • Mikro-Spektrophotometer▾
        • USPM-RU-W
        • USPM-RU III
      • Objektive▾
        • MPLAPON
        • MPLAPON-Oil
        • MPLN
        • MPLN-BD
        • MPLFLN
        • MPLFLN-BD
        • MPLFLN-BDP
        • LMPLFLN
        • LMPLFLN-BD
        • SLMPLN
        • LCPLFLN-LCD
        • LMPLN-IR/LCPLN-IR
        • Objektiv mit Weißlichtinterferometrie
        • Mikrometer
      • Integrierbare OEM-Mikroskopkomponenten▾
        • Lösungen zur Geräteintegration
        • Objektive
        • Mikroskopstative
        • Superweitwinkel-Tubuslinse
        • Mikroskopmodule
        • Modulare Mikroskope
      • Microscope FAQ
    • Videoskope und Endoskope▾
      • Videoskopsysteme▾
        • IPLEX NX
        • IPLEX GAir
        • IPLEX GX/GT
        • IPLEX G Lite
        • IPLEX TX
        • Sehr lange IPLEX Videoskopeinführungsteile
      • Glasfaser-Endoskope▾
        • Fiberskope mit geringem Durchmesser
      • Starre Industrie-Endoskope▾
        • Starre Standard-Endoskope
        • Schwenkprisma Endoskope
        • Zoom-Schwenkprisma Endoskope
        • MK modulares Mini-Endoskop
        • Endoskope für Triebwerke
      • Lichtquellen
      • Inspektions-Assistenz-Software▾
        • InHelp
  • Industriezweige
  • Learn
  • Blog
  • Multimedia
  • Servicebereich▾
    • Kontakt
    • Kundenservice
    • XRF and XRD Technical Support
    • Servicecenter
    • Kundenspezifische Finanzierungslösungen
    • Same Day Shipping Program
    • Olympus Scientific Cloud
    • Software-Downloads
    • ISO-Zertifizierungen
    • MSDS-Datenblätter
    • Compliance and Ethics at Olympus
    • Produktinformation
    • Product Service Termination List
    • Auslaufmodelle und veraltete Produkte
    • Terms and Conditions of Supply
    • CIC
    • Olympus Technolab
    • Microscope Classroom
  • Rentals
  • Shop
  • Suche
  • My Account
    • IMS Log in
    • IMS Registration
    • My Apps
    • My Devices
    • My Data
    • OSC Marketplace
    • My Organization
    • OSC Log in
    • OSC Log in
    • Log Out
    • Log Out
Lösungen für die Industrie

Scanning Probe Microscopy

Startseite/ Produkte/ Scanning Probe Microscopy

Integrating a traditional optical microscope with an excellent laser scanning microscope (LSM) and a nanometric-scale scanning probe microscope (SPM), the OLYMPUS LEXT OLS4500 is compatible with a wide range of samples, providing a total observation/measurement solution for a new era.

Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
  • Kontakt
  • ZfP-Lösungen
  • Analysatoren zur XRF (RFA) und XRD
  • Mikroskop-Lösungen
    • Scanning Probe Microscopy
      • OLS4500
    • Konfokale Lasermikroskope
    • Digitale Mikroskope
    • Messmikroskope
    • Inspector Serie für technische Sauberkeit
    • Lichtmikroskope
    • Mikroskope für die Prüfung von Halbleitern und Flachbildschirmen
    • Stereomikroskope
    • Digitalkameras
    • Bildanalysesoftware
    • Mikro-Spektrophotometer
    • Objektive
    • Integrierbare OEM-Mikroskopkomponenten
    • Microscope FAQ
  • Videoskope und Endoskope
  • Newsletter abonnieren
Startseite/ Produkte/ Scanning Probe Microscopy
Drucken

Copyright OLYMPUS CORPORATION, Alle Rechte vorbehalten.

Global | Nutzungsbedingungen | Datenschutzerklärung | Cookies | | Über uns | Careers | Careers | Sitemap

Copyright OLYMPUS CORPORATION, Alle Rechte vorbehalten.

Global | Nutzungsbedingungen | Datenschutzerklärung | Cookies | | Über uns | Imprint | Careers | Careers | Sitemap

  • Youtube
  • LinkedIn
  • Twitter
  • Facebook
Cancel

Redirecting...

You are being redirected to our local site.