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Geschwindigkeit

Erhalten Sie schnell Antworten: Hochgeschwindigkeits-Scannen

Der Scan-Algorithmus des Mikroskops ermöglicht eine verbesserte Datenqualität und eine höhere Geschwindigkeit, um die Scanzeit zu verkürzen und Ihren Workflow zu rationalisieren, was zu einer höheren Produktivität führt.


PEAK-Algorithmus

PEAK-Algorithmus

VLSI-Höhenstandard mit 80 nm Höhe (MPLFLN10XLEXT) 

Das OLS5000 Mikroskop arbeitet mit einem PEAK-Algorithmus für die 3D-Datenkonstruktion. Dieser Algorithmus liefert hochgenaue Daten bei geringer und starker Vergrößerung und verkürzt die Datenerfassungszeit.


Bildaufnahme überspringen

Bei der Messung von Stufenformen an einem Objekt mit fast senkrechten Ebenen, z. B. einem Elektronikbauteil oder MEMS, kann die Datenerfassungszeit verkürzt werden, wenn das Scannen unnötiger Bereiche in Z-Richtung übersprungen wird.
Eine 700-μm-Stufe kann ohne Verlust an Genauigkeit in etwa 15 Sekunden gemessen werden (bei Verwendung des MPLAPON20x Objektivs). 


Andere Technologien, die ein schnelles Arbeiten erlauben

  • Band Scan
  • 1-zeilige Datenerfassung

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Die Informationen auf dieser Seite, einschließlich der Genauigkeitsgarantie, basieren auf den von Olympus festgelegten Bedingungen.

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