Leiterplatten für 5G-Anwendungen sind so konzipiert, dass sie Übertragungsverluste verhindern. Dazu wird die Oberflächenrauheit der Kupferschaltkreises minimiert.
Querschnitt einer Leiterplatte
Herkömmlich wurde die Benetzbarkeit auf der Seite der Kupferfolie verwendet, um die Qualität der Verbindung zwischen der Kupferfolienbasis und dem organischen Material zu steuern. Mit zunehmender Verbesserung der Funktionalität flexibler Leiterplatten steigt inzwischen auch die Nachfrage nach der Bewertung der Oberflächenrauheit der Kupferfolie.
Wafer für akustische Oberflächenwellengeräte
Akustische Oberflächenwellengeräte nutzen Vibrationen, die durch eine feste Oberfläche übertragen werden, um bestimmte Signale aus den Hintergrund-Radiowellen zu extrahieren. Bei hochfrequenten 5G-Anwendungen wird die Rückseite des Wafers aufgeraut, um unerwünschte Frequenzen zu streuen.
Herausforderungen bei der Rauheitsmessung
Herkömmliche Rauheitsmessungen mit einem Kontaktstift können die Oberfläche der Probe beschädigen und sind nicht empfindlich genug, um kleinste Rauheitsabweichungen zu erkennen.
Rauheitsmessung mit einem Laser-Mikroskop
Das OLS5100 Laser-Mikroskop für 3D-Messungen ermöglicht eine hochgenaue, kontaktfreie Rauheitsmessung der Oberfläche von Kupferfolien und -wafern. Es kann hochauflösende Messungen der Oberflächenrauheit in sehr kleinen Bereichen durchführen, ohne die Oberfläche der Probe zu beschädigen.
3D-Messung von Kupferfolie
Mittel- und niederfrequente Anwendungen für Kupferfolie
Hochfrequente 5G-Anwendungen für Kupferfolie
Hochauflösendes Bild der Kupferfolienoberfläche
3D-Bild der Kupferfolienoberfläche
Rauheitsmessung der Rückseite von Lithiumtantalat-Wafern nach dem Aufrauhen von Kupfer
Sofortige Anzeige des aufgerauten Zustands
Erfassung genauer Daten basierend auf der Oberflächenrauheit
.jpg?rev=9DF4)
.jpg?rev=9DF4)
