L'analizzatore XRF in linea di produzione Vanta iX
permette di eseguire delle analisi completamente automatizzate per il controllo dei sistemi produttivi a elevato volume.
L'analizzatore Vanta iX può essere controllato da un computer
o integrato a un PLC per l'avvio/arresto automatizzato, l'acquisizione dei dati,
il processo decisionale e la comunicazione per dispositivi esterni.
Adesso ne descriveremo il funzionamento.
Un campione viene posizionato sulla testata delle sonde per essere analizzato.
La testata delle sonde emette raggi X per analizzare il materiale del campione.
Utilizzando queste informazioni, l'analizzatore Vanta iX
può verificare in modo veloce e non distruttivo la qualità di lega e la composizione chimica
per determinare se il materiale soddisfa le specifiche e visualizza un risultato con corrispondenza della qualità di lega
o un risultato di tipo idoneo/non idoneo.
Attraverso misure continue dal titanio all'uranio
su qualunque superficie, per il modello CW,
e misure dal magnesio all'uranio, per il modello MR,
il Vanta iX può fornire dei risultati di diverso tipo: composizione chimica del materiale,
precisa identificazione della qualità di lega o idoneo/non idoneo.
Il sistema Vanta iX ha un funzionamento e dei connettori efficienti
rendendo facile l'integrazione con nuovi o esistenti processi controllati PLC.
Il Vanta iX ha un grado di protezione IP,
con una pellicola con supporto in Kapton resistente per il modello CW e
una pellicola con supporto in Prolene con il modello MR.
L'analizzatore è progettato per resistere con un'operatività 24/7 con alti livelli di vibrazioni,
rumore acustico, rumore elettromagnetico, polvere e umidità.
Per maggior informazioni su come il sistema XRF in linea di produzione Vanta iX
possa contribuire all'integrazione di un processo di controllo qualità alla propria linea di produzione,
contattare il proprio rappresentante locale Olympus o visitare il nostro sito.