L’analyseur XRF sur ligne de production Vanta iX
exécute des analyses complètement automatisées lors du contrôle de processus à très haut volume.
Le système peut être contrôlé par PC,
ou intégré à un PLC pour automatiser le démarrage et l’arrêt, l’acquisition des données,
la prise de décision et la communication avec d’autres périphériques.
Voici comment cela fonctionne.
Une pièce est placée au-dessus de la sonde pour être analysée.
La sonde émet des rayons X pour analyser le matériau.
À partir des données acquises, l’analyseur indique
rapidement et de manière non destructive les nuances d’alliage et la composition chimique
pour vérifier que le matériau répond aux spécifications, affiche une correspondance de nuance
ou fournit un résultat d’acceptation ou de rejet.
Le modèle CW offre des mesures ininterrompues
du titane à l’uranium sur n’importe quelle surface,
et le modèle MR offre des mesures du magnésium à l’uranium.
Le Vanta iX procure des résultats de composition chimique,
une identification précise des nuances ou des résultats de rejet ou d’acceptation
Le système Vanta iX permet un fonctionnement intelligent et il est doté de connecteurs facilitant son intégration
aux processus contrôlés par PLC, nouveaux ou existants.
Le Vanta iX satisfait à l’indice de protection IP.
Le modèle CW est muni d’une robuste fenêtre avec filet en Kapton,
et le modèle MR est muni d’une fenêtre en Prolène.
Conçu pour fonctionner sans interruption, le système résiste à des niveaux élevés de vibrations,
de bruits électromagnétiques et acoustiques, de poussières et d’humidité.
Pour en savoir plus sur la façon dont le système XRF Vanta iX
peut vous aider à établir un processus de contrôle de la qualité sur votre ligne de production,
communiquez avec votre représentant Olympus ou visitez notre site Web.