1
00:00:05,530 --> 00:00:07,683
OmniScan SX – мультитехнологичное
решение

2
00:00:07,685 --> 00:00:09,498
для контроля сварных соединений

3
00:00:09,500 --> 00:00:12,031
Olympus OmniScan SX способен выполнять

4
00:00:12,033 --> 00:00:14,065
традиционный контроль A-скан,

5
00:00:14,066 --> 00:00:16,631
контроль методом фазированных решеток,
а также контроль методом TOFD

6
00:00:16,633 --> 00:00:19,331
с сохранением данных
для дальнейшего анализа и отчетности,

7
00:00:19,333 --> 00:00:21,798
заменяющий рентгенодефектоскопию.

8
00:00:21,800 --> 00:00:24,898
Традиционный УЗК

9
00:00:24,900 --> 00:00:28,565
В режиме дефектоскопа
для традиционных УЗ преобразователей,

10
00:00:28,566 --> 00:00:31,598
широкоформатный сенсорный дисплей
с высоким разрешением

11
00:00:31,600 --> 00:00:34,398
и интерактивное меню A-скана

12
00:00:34,400 --> 00:00:37,698
позволяют выполнять многие действия
прямо на экране прибора:

13
00:00:37,700 --> 00:00:43,798
начало УЗК, диапазон УЗ,

14
00:00:43,800 --> 00:00:46,531
настройка строба,

15
00:00:46,533 --> 00:00:49,498
изменение значений усиления

16
00:00:49,500 --> 00:00:53,365
и тригонометрии.

17
00:00:53,366 --> 00:00:56,033
Во время традиционного
ультразвукового контроля

18
00:00:56,035 --> 00:00:58,931
преобразователь перемещается
вперед-назад вдоль сварного шва,

19
00:00:58,933 --> 00:01:16,431
с наложением сканов;
данные отображаются на A-скане.

20
00:01:16,433 --> 00:01:21,931
Аномальные показания
отмечаются прямо на сварном шве,

21
00:01:21,933 --> 00:01:33,931
а статистические данные
заносятся в отчет.

22
00:01:33,933 --> 00:01:46,065
(Видео ускорено в 2,5 раза
по сравнению с оригинальной съемкой.)

23
00:01:46,066 --> 00:01:48,265
Готовый отчет распечатывается

24
00:01:48,266 --> 00:01:50,331
и подписывается инспектором.

25
00:01:50,333 --> 00:01:55,065
Результаты контроля во многом зависят
от квалификации и опыта инспектора.

26
00:01:55,066 --> 00:01:58,298
Сбор данных — Метод
фазированных решеток

27
00:01:58,300 --> 00:02:01,631
Метод фазированных решеток
представляет собой

28
00:02:01,633 --> 00:02:04,631
комплексный быстрый контроль
с использованием многоэлементных

29
00:02:04,633 --> 00:02:07,498
программируемых преобразователей
и сканеров.

30
00:02:07,500 --> 00:02:10,731
Контроль методом фазированных решеток
регулируется

31
00:02:10,733 --> 00:02:13,798
теми же международными стандартами,
что и традиционный УЗК,

32
00:02:13,800 --> 00:02:16,998
а именно ASME, EN и т.п.

33
00:02:17,000 --> 00:02:19,565
При сканировании преобразователь
перемещается параллельно линии шва

34
00:02:19,566 --> 00:02:21,298
от заранее заданного положения;

35
00:02:21,300 --> 00:02:26,465
полученные данные сохраняются.

36
00:02:26,466 --> 00:02:29,831
После завершения сбора данных
файл данных сохраняется

37
00:02:29,833 --> 00:02:32,965
на карте памяти SDHC
для дальнейшего анализа

38
00:02:32,966 --> 00:02:34,931
в OmniScan

39
00:02:34,933 --> 00:02:38,598
или в автономном режиме,
с помощью OmniPC.

40
00:02:38,600 --> 00:02:42,465
Анализ — Метод фазированных решеток

41
00:02:42,466 --> 00:02:45,898
Анализ позволяет
отображать данные

42
00:02:45,900 --> 00:02:48,866
«вид сбоку» и «вид с торца»;
данные A-скан используются

43
00:02:48,868 --> 00:02:52,451
для создания этих двух разверток

44
00:02:52,453 --> 00:02:56,065
напрямую в интерактивной
строке заголовка.

45
00:02:56,066 --> 00:02:59,465
Простым щелчком на экране
установите и удерживайте курсор данных

46
00:02:59,466 --> 00:03:04,265
или, используя
интерактивную строку заголовка,

47
00:03:04,266 --> 00:03:06,898
воспроизведите контроль, перемещаясь
на одну точку данных за раз

48
00:03:06,900 --> 00:03:09,331
вдоль линии сварного шва.

49
00:03:09,333 --> 00:03:13,265
Длина определяется
на C-скане

50
00:03:13,266 --> 00:03:17,065
путем расположения курсоров
на границах дефекта,

51
00:03:17,066 --> 00:03:23,298
местах уменьшения амплитуды
на 3 или 6 дБ.

52
00:03:23,300 --> 00:03:29,198
Глубина и высота дефекта
определяются на S-скане

53
00:03:29,200 --> 00:03:34,031
путем манипулирования курсоров
на границах дефекта.

54
00:03:34,033 --> 00:03:38,998
В боковой стенке
наблюдается несплавление.

55
00:03:39,000 --> 00:03:42,531
Длина дефекта
17,34 миллиметра,

56
00:03:42,533 --> 00:03:46,798
высота дефекта
4,84 миллиметра,

57
00:03:46,800 --> 00:03:51,798
глубина дефекта
6,79 миллиметров.

58
00:03:51,800 --> 00:03:54,931
Дефекты добавляются
в таблицу показаний

59
00:03:54,933 --> 00:03:56,631
напрямую с сенсорного экрана,

60
00:03:56,633 --> 00:04:00,298
вместе со снимком
текущего экрана.

61
00:04:00,300 --> 00:04:07,131
Встроенный генератор отчетов OmniScan

62
00:04:07,133 --> 00:04:11,365
позволяет добавлять
информацию

63
00:04:11,366 --> 00:04:15,331
о параметрах контроля
и результатах контроля.

64
00:04:15,333 --> 00:04:17,531
Отчет можно сохранить

65
00:04:17,533 --> 00:04:23,698
на карту памяти SDHC
или распечатать.

66
00:04:23,700 --> 00:04:27,431
Сбор данных — Метод TOFD

67
00:04:27,433 --> 00:04:29,431
Дифракционно-временной метод (TOFD)

68
00:04:29,433 --> 00:04:31,465
использует два стандартных
преобразователя,

69
00:04:31,466 --> 00:04:35,631
работающих в раздельном режиме,
и один A-скан.

70
00:04:35,633 --> 00:04:39,265
Мастер настройки
ПО OmniScan

71
00:04:39,266 --> 00:04:46,165
облегчает конфигурацию
ультразвука и сканера.

72
00:04:46,166 --> 00:04:50,965
В интерактивной строке заголовка
выберите экранную схему AB

73
00:04:50,966 --> 00:04:54,965
и запустите на приборе
сбор данных.

74
00:04:54,966 --> 00:04:57,031
Медленно и плавно перемещайте
преобразователь

75
00:04:57,033 --> 00:05:05,365
вдоль всего сварного шва.

76
00:05:05,366 --> 00:05:08,798
Нажмите на паузу
и сохраните полученные данные

77
00:05:08,800 --> 00:05:12,598
на карту памяти SDHC.

78
00:05:12,600 --> 00:05:15,931
Анализ — Метод TOFD

79
00:05:15,933 --> 00:05:18,898
Анализ методом TOFD
выполняется на B-скане

80
00:05:18,900 --> 00:05:23,298
и на A-скане после калибровки
PCS и задержки призмы.

81
00:05:23,300 --> 00:05:28,465
Увеличьте интересуемый участок
на B-скане

82
00:05:28,466 --> 00:05:34,165
и отрегулируйте положение
курсора данных рядом с дефектом.

83
00:05:34,166 --> 00:05:36,965
Настройка курсора данных
с помощью ручки регулирования

84
00:05:36,966 --> 00:05:42,831
позволяет отображать A-скан
для каждой точки данных на B-скане.

85
00:05:42,833 --> 00:05:48,398
Непосредственно рядом с дефектом
настройте положение опорного курсора

86
00:05:48,400 --> 00:05:52,831
на поверхностной волне,

87
00:05:52,833 --> 00:05:56,265
также настройте положение

88
00:05:56,266 --> 00:06:00,765
курсора измерения на донном сигнале.

89
00:06:00,766 --> 00:06:03,331
На сенсорном экране нажмите

90
00:06:03,333 --> 00:06:09,331
клавишу «Wedge delay and PCS»

91
00:06:09,333 --> 00:06:13,565
Калибровка экрана завершена,

92
00:06:13,566 --> 00:06:17,998
а дефект измерен с помощью
прямоугольника, созданного

93
00:06:18,000 --> 00:06:22,198
опорным курсором и курсором измерения

94
00:06:22,200 --> 00:06:25,498
на ультразвуковой оси и
оси сканирования.

95
00:06:25,500 --> 00:06:31,465
Установите курсоры данных

96
00:06:31,466 --> 00:06:35,331
для получения репрезентативного
A-скана.

97
00:06:35,333 --> 00:06:39,465
Нажимая на зоны с показаниями
и удерживая их,

98
00:06:39,466 --> 00:06:42,031
добавьте показания в таблицу,

99
00:06:42,033 --> 00:06:44,298
для сохранения в файле данных

100
00:06:44,300 --> 00:06:47,633
и внесения в конечный отчет
с результатами.