1
00:00:05,504 --> 00:00:09,508
OmniScan SXの
マルチテクノロジーによる溶接部探傷

2
00:00:09,508 --> 00:00:12,044
オリンパスのOmniScan SXは

3
00:00:12,044 --> 00:00:14,080
Ｘ線検査に代わり、
従来のA-スキャン探傷および

4
00:00:14,080 --> 00:00:16,648
高度なフェーズドアレイ探傷と、
TOFD探傷を行うことができます。

5
00:00:16,648 --> 00:00:19,351
また、取得したデータを保存し、
解析やレポート作成に

6
00:00:19,351 --> 00:00:21,821
利用することができます。

7
00:00:21,821 --> 00:00:24,923
「一般的なUT法(超音波探傷法)による探傷」

8
00:00:24,923 --> 00:00:28,595
一般的なUTプローブによる
探傷モードでは

9
00:00:28,595 --> 00:00:31,630
大型の
高解像度タッチスクリーンと

10
00:00:31,630 --> 00:00:34,433
A-スキャン表示上の
インタラクティブメニューにより

11
00:00:34,433 --> 00:00:37,736
タッチスクリーンで、
次のような操作を行うことができます。

12
00:00:37,736 --> 00:00:43,843
UT開始位置、UT範囲

13
00:00:43,843 --> 00:00:46,545
ゲートの調整、

14
00:00:46,578 --> 00:00:49,548
ゲインの変更、

15
00:00:49,548 --> 00:00:53,285
斜角の設定です。

16
00:00:53,285 --> 00:00:56,088
一般的なUT探傷では

17
00:00:56,088 --> 00:00:58,991
A-スキャン表示で
欠陥指示を確認しながら

18
00:00:58,991 --> 00:01:16,508
溶接線に対してプローブを垂直にオーバーラップさせつつ
前後走査させ、溶接線に沿って並行移動させていきます。

19
00:01:16,508 --> 00:01:21,981
欠陥指示が検出されたら
溶接部にマークをつけ

20
00:01:22,014 --> 00:01:34,026
統計データを
探傷レポートに書き込みます。

21
00:01:34,026 --> 00:01:46,171
（現在、画面表示は標準速度の2.5倍速になっています。）

22
00:01:46,171 --> 00:01:48,374
レポートの最後に
検査担当者がサインします。

23
00:01:48,374 --> 00:01:50,443
これは、測定結果が

24
00:01:50,443 --> 00:01:55,048
検査担当者の技術や経験に
大きく影響されるためです。

25
00:01:55,048 --> 00:01:58,418
「フェーズドアレイ法によるデータ収集」

26
00:01:58,418 --> 00:02:01,754
フェーズドアレイ探傷は
複数のエレメントを持つ

27
00:02:01,754 --> 00:02:04,623
プログラム可能なプローブと、スキャナーを
使用することにより

28
00:02:04,623 --> 00:02:07,626
短時間で徹底した探傷を
行うことができます。

29
00:02:07,626 --> 00:02:10,863
フェーズドアレイ探傷は
ASME、EN、それらに類似する規格など、

30
00:02:10,863 --> 00:02:13,933
一般的な超音波探傷と同様の規格
および標準試験片により

31
00:02:13,933 --> 00:02:17,136
規格化されています。

32
00:02:17,136 --> 00:02:19,704
プローブを、所定の位置から
溶接線に沿って

33
00:02:19,704 --> 00:02:21,439
並行移動しスキャンさせ

34
00:02:21,439 --> 00:02:26,611
データを記録します。

35
00:02:26,611 --> 00:02:29,981
データ取得後は、
OmniScan探傷器で直接解析したり、

36
00:02:29,981 --> 00:02:33,118
またはOmniPCソフトウェアを使って
オフラインで解析するため

37
00:02:33,118 --> 00:02:34,953
データファイルを保存し

38
00:02:34,953 --> 00:02:38,758
SDHCカードに記録します。

39
00:02:38,758 --> 00:02:42,628
フェーズドアレイ解析

40
00:02:42,628 --> 00:02:46,065
フェーズドアレイ解析では
A-スキャンデータに沿った

41
00:02:46,065 --> 00:02:48,901
断面図と上面図を
表示することができます。

42
00:02:48,901 --> 00:02:56,241
これらはインタラクティブなタイトルバーから
直接作成することができます。

43
00:02:56,241 --> 00:02:59,644
タッチスクリーンで
データカーソルに触れ、ホールドし

44
00:02:59,644 --> 00:03:04,316
データカーソルを設定するか、または
インタラクティブなタイトルバーを操作し

45
00:03:04,316 --> 00:03:07,086
溶接線に沿って
一回に一つのデータポイントを

46
00:03:07,086 --> 00:03:09,521
再生することができます。

47
00:03:09,521 --> 00:03:13,459
きずの長さの測定は
C-スキャン(上面表示)で行います。

48
00:03:13,459 --> 00:03:17,130
カーソルを
きずの端部に配置し

49
00:03:17,130 --> 00:03:23,503
ゲインを3～6dB減少させ測定します。

50
00:03:23,503 --> 00:03:29,408
きずの深さと高さは
S-スキャン(断面表示)を使って測定します。

51
00:03:29,408 --> 00:03:34,246
カーソルをきずの端部に
配置します。

52
00:03:34,246 --> 00:03:39,218
ここでは、融合不良の
欠陥指示が見られます。

53
00:03:39,218 --> 00:03:42,721
きずの長さが、
17.34ミリメートル

54
00:03:42,754 --> 00:03:47,026
きずの高さが
4.84ミリメートル

55
00:03:47,026 --> 00:03:52,031
きずの深さが
6.79ミリメートルです。

56
00:03:52,031 --> 00:03:55,168
きずは、現在のレイアウトの
スクリーンショットとともに

57
00:03:55,168 --> 00:03:56,869
タッチスクリーンから直接、

58
00:03:56,869 --> 00:04:00,540
欠陥指示テーブルに
追加することができます。

59
00:04:00,540 --> 00:04:07,379
OmniScan搭載のレポート作成機能を使い

60
00:04:07,379 --> 00:04:11,616
レポートには、
探傷器の情報や探傷結果の

61
00:04:11,616 --> 00:04:15,588
パラメーターを
挿入することができます。

62
00:04:15,588 --> 00:04:17,756
レポートは直接

63
00:04:17,789 --> 00:04:23,963
SDHCカードに保存したり、
印刷することができます。

64
00:04:23,963 --> 00:04:27,699
「TOFD法のデータ収集」

65
00:04:27,699 --> 00:04:29,568
TOFD検査は

66
00:04:29,568 --> 00:04:31,738
2個の一般的なUTプローブと

67
00:04:31,738 --> 00:04:35,874
ピッチキャッチ構成による
シングルA-スキャンで行います。

68
00:04:35,908 --> 00:04:39,545
OmniScanソフトウェアの
ウィザードは

69
00:04:39,545 --> 00:04:46,451
UTとスキャナーを設定する際に
役立ちます。

70
00:04:46,451 --> 00:04:51,256
インタラクティブなタイトルバーで
AB（A-スキャンとB-スキャン）レイアウトを選択し

71
00:04:51,256 --> 00:04:55,128
探傷器で
データ収集を開始します。

72
00:04:55,128 --> 00:04:57,329
溶接線に沿ってプローブを

73
00:04:57,329 --> 00:05:05,671
ゆっくりと滑らかに動かし、
安定したスキャンを行います。

74
00:05:05,671 --> 00:05:09,075
一時停止を選択し

75
00:05:09,108 --> 00:05:12,911
データをSDHCメモリーカードに
保存します。

76
00:05:12,911 --> 00:05:16,248
「TOFD解析」

77
00:05:16,248 --> 00:05:19,218
TOFD解析は、B-スキャンと

78
00:05:19,218 --> 00:05:23,623
PCSとウェッジ遅延の校正後の
A-スキャンを使用します。

79
00:05:23,623 --> 00:05:28,794
B-スキャンの
調べたいエリアをズーム表示し

80
00:05:28,794 --> 00:05:34,499
きずの近くに
データカーソルを配置します。

81
00:05:34,499 --> 00:05:37,303
回転ノブで
データカーソルを操作し

82
00:05:37,303 --> 00:05:43,174
B-スキャンの各データポイントで
A-スキャンを表示します。

83
00:05:43,174 --> 00:05:48,748
きず部分から外した
基準カーソルを

84
00:05:48,748 --> 00:05:53,184
ラテラル波の上に配置し

85
00:05:53,184 --> 00:05:56,621
底面エコーの上に

86
00:05:56,621 --> 00:06:01,126
測定カーソルを配置します。

87
00:06:01,126 --> 00:06:03,696
タッチスクリーンで、タッチ＆ホールドし

88
00:06:03,696 --> 00:06:09,701
ウエッジの遅延とPCSを選択します。

89
00:06:09,701 --> 00:06:13,906
これで、スクリーン表示は校正され、

90
00:06:13,939 --> 00:06:18,378
UT軸とスキャン軸上の
基準カーソルと測定カーソルによって

91
00:06:18,378 --> 00:06:22,448
指定した四角い範囲内で

92
00:06:22,448 --> 00:06:25,884
きずを測定することができます。

93
00:06:25,884 --> 00:06:31,724
データカーソルを配置し

94
00:06:31,724 --> 00:06:35,728
典型的なA-スキャンでは

95
00:06:35,728 --> 00:06:39,864
測定値のエリアで
タッチ＆ホールドし

96
00:06:39,864 --> 00:06:42,434
欠陥指示をテーブルに追加して

97
00:06:42,434 --> 00:06:44,570
それをデータファイルに保存します。

98
00:06:44,570 --> 00:06:48,040
これでレポートに使用することができます。