1
00:00:05,504 --> 00:00:09,506
利用多项技术
进行焊缝检测的OmniScan SX

2
00:00:09,508 --> 00:00:12,043
Olympus OmniScan SX可以进行

3
00:00:12,044 --> 00:00:14,078
常规A扫描检测，

4
00:00:14,080 --> 00:00:16,646
以及高级相控阵
和TOFD检测，

5
00:00:16,648 --> 00:00:19,349
在这些检测中，数据被保存下来
用于分析并制作报告，

6
00:00:19,351 --> 00:00:21,819
这种检测可替代射线成像技术。

7
00:00:21,821 --> 00:00:24,921
常规UT

8
00:00:24,923 --> 00:00:28,593
在使用常规UT探头，
进行缺陷探伤时，

9
00:00:28,595 --> 00:00:31,628
宽屏、高分辨率
触摸屏显示，

10
00:00:31,630 --> 00:00:34,431
以及A扫描的交互式菜单

11
00:00:34,433 --> 00:00:37,734
可使用户利用触摸屏
对操作进行控制。

12
00:00:37,736 --> 00:00:43,841
UT起始，UT范围，

13
00:00:43,843 --> 00:00:46,576
闸门控制，

14
00:00:46,578 --> 00:00:49,546
更改增益的性能，

15
00:00:49,548 --> 00:00:53,283
以及三角学读数。

16
00:00:53,285 --> 00:00:56,086
在常规UT检测中，

17
00:00:56,088 --> 00:00:58,989
探头以光栅方式
在焊缝边上来回扫查，

18
00:00:58,991 --> 00:01:16,506
扫查区域会搭接重叠，同时用户可以
观察A扫描显示中的缺陷指示。

19
00:01:16,508 --> 00:01:22,013
焊缝上的缺陷被标出，
然后，可将探测到的

20
00:01:22,014 --> 00:01:34,024
统计信息
写入到检测报告。

21
00:01:34,026 --> 00:01:46,169
（视频速度较
正常速度快2倍半。）

22
00:01:46,171 --> 00:01:48,373
最终结果是一个书面报告，

23
00:01:48,374 --> 00:01:50,441
报告需由检测人员签字，

24
00:01:50,443 --> 00:01:55,046
检测结果在很大程度上取决于
检测人员的检测技术和经验。

25
00:01:55,048 --> 00:01:58,416
相控阵采集

26
00:01:58,418 --> 00:02:01,753
相控阵检测提供
更全面

27
00:02:01,754 --> 00:02:04,621
更迅速的检测，
这种检测使用多晶片

28
00:02:04,623 --> 00:02:07,625
可编程探头和扫查器。

29
00:02:07,626 --> 00:02:10,861
相控阵检测
受到用于常规UT检测的

30
00:02:10,863 --> 00:02:13,931
相同的规范和
验收标准的控制，

31
00:02:13,933 --> 00:02:17,135
如：ASME、EN及同类规范。

32
00:02:17,136 --> 00:02:19,703
探头的扫查
平行于焊缝线，

33
00:02:19,704 --> 00:02:21,438
扫查始于一个预先确定的位置，

34
00:02:21,439 --> 00:02:26,610
且数据被记录下来。

35
00:02:26,611 --> 00:02:29,979
在采集结束时，
数据文件被保存，

36
00:02:29,981 --> 00:02:33,116
并被记录到
SDHC卡中，以直接

37
00:02:33,118 --> 00:02:34,951
在OmniScan上进行分析，

38
00:02:34,953 --> 00:02:38,756
或使用OmniPC软件进行离线分析。

39
00:02:38,758 --> 00:02:42,626
相控阵分析

40
00:02:42,628 --> 00:02:46,063
相控阵分析包含使用户
观察侧视图和端视图中

41
00:02:46,065 --> 00:02:48,899
数据的能力，屏幕上
同时显示A扫描数据，

42
00:02:48,901 --> 00:02:56,239
A扫描数据用于通过
交互式标题栏直接创建视图。

43
00:02:56,241 --> 00:02:59,643
通过在触摸屏上
触摸并按住的方式设置数据光标，

44
00:02:59,644 --> 00:03:04,315
或者以控制交互式
标题栏方式可以使检测

45
00:03:04,316 --> 00:03:07,084
沿焊缝线方向
以一次播放一个数据点

46
00:03:07,086 --> 00:03:09,520
的形式重现。

47
00:03:09,521 --> 00:03:13,458
缺陷长度的定量
在C扫描中完成，

48
00:03:13,459 --> 00:03:17,128
方法是将光标
放置在缺陷的端点处，

49
00:03:17,130 --> 00:03:23,501
在此位置，增益下降至3或6 dB。

50
00:03:23,503 --> 00:03:29,406
深度或高度的定量
在S扫描中完成，

51
00:03:29,408 --> 00:03:34,244
方法是将光标移动到
缺陷的端点处。

52
00:03:34,246 --> 00:03:39,216
我们这里是一个侧壁
未融合缺陷指示。

53
00:03:39,218 --> 00:03:42,753
长度为17.34毫米，

54
00:03:42,754 --> 00:03:47,024
高度为4.84毫米，

55
00:03:47,026 --> 00:03:52,029
深度为6.79毫米。

56
00:03:52,031 --> 00:03:55,166
缺陷被直接
从触摸屏添加

57
00:03:55,168 --> 00:03:56,868
到缺陷报表，

58
00:03:56,869 --> 00:04:00,538
还包含当前布局的
屏幕截图，

59
00:04:00,540 --> 00:04:07,378
而且机载报告生成器

60
00:04:07,379 --> 00:04:11,615
可以生成有关OmniScan
仪器和检测结果的

61
00:04:11,616 --> 00:04:15,586
检测参数信息。

62
00:04:15,588 --> 00:04:17,788
报告可被直接保存

63
00:04:17,789 --> 00:04:23,961
到SDHC卡中，
并可被打印出来。

64
00:04:23,963 --> 00:04:27,698
TOFD采集

65
00:04:27,699 --> 00:04:29,566
TOFD检测技术

66
00:04:29,568 --> 00:04:31,736
使用两个常规探头

67
00:04:31,738 --> 00:04:35,906
以及一个以一发一收方式
配置的单个A扫描。

68
00:04:35,908 --> 00:04:39,543
OmniScan软件向导
可以帮助用户

69
00:04:39,545 --> 00:04:46,449
配置UT参数
和扫查器参数。

70
00:04:46,451 --> 00:04:51,254
在交互式标题栏中
选择AB布局，

71
00:04:51,256 --> 00:04:55,126
并在仪器上启动采集。

72
00:04:55,128 --> 00:04:57,328
以一种缓慢、平滑、稳定的扫查方式

73
00:04:57,329 --> 00:05:05,669
沿焊缝线移动探头。

74
00:05:05,671 --> 00:05:09,106
选择暂停按钮，
然后将数据保存

75
00:05:09,108 --> 00:05:12,909
到SDHC存储卡中。

76
00:05:12,911 --> 00:05:16,246
TOFD分析

77
00:05:16,248 --> 00:05:19,216
TOFD分析在
B扫描和A扫描中完成，

78
00:05:19,218 --> 00:05:23,621
进行TOFD分析之前，
要先完成PCS和楔块延迟的校准。

79
00:05:23,623 --> 00:05:28,793
放大B扫描中
含有缺陷的区域，

80
00:05:28,794 --> 00:05:34,498
并将数据光标
设置在缺陷附近。

81
00:05:34,499 --> 00:05:37,301
使用飞梭旋钮
控制数据光标，

82
00:05:37,303 --> 00:05:43,173
可以显示B扫描中每个
数据点的A扫描。

83
00:05:43,174 --> 00:05:48,746
在缺陷以外的区域，
将参考光标设置在

84
00:05:48,748 --> 00:05:53,183
直通波上，

85
00:05:53,184 --> 00:05:56,620
将测量光标设置

86
00:05:56,621 --> 00:06:01,124
在底面回波上。

87
00:06:01,126 --> 00:06:03,694
使用触摸屏，以触摸并按住的方式

88
00:06:03,696 --> 00:06:09,699
选择楔块延迟和PCS。

89
00:06:09,701 --> 00:06:13,938
现在屏幕被校准，

90
00:06:13,939 --> 00:06:18,376
且缺陷大小
由在超声轴和扫查轴方向上

91
00:06:18,378 --> 00:06:22,446
的参考光标和测量光标

92
00:06:22,448 --> 00:06:25,883
创建的框定量。

93
00:06:25,884 --> 00:06:31,723
定位数据光标，

94
00:06:31,724 --> 00:06:35,726
获得一个有代表性的A扫描，

95
00:06:35,728 --> 00:06:39,863
触摸并按住
读数区域，

96
00:06:39,864 --> 00:06:42,433
将缺陷指示添加到报表中，

97
00:06:42,434 --> 00:06:44,701
而且它也被存储到数据文件中，

98
00:06:44,703 --> 00:06:53,669
可被用于制作报告。