1
00:00:04,533 --> 00:00:06,800
Olympus se complace en presentar

2
00:00:06,800 --> 00:00:08,666
el microscopio de escaneo
láser confocal en 3D

3
00:00:08,666 --> 00:00:11,933
LEXT® OLS5000.

4
00:00:11,933 --> 00:00:14,533
Con una óptica y software
recientemente desarrollados

5
00:00:14,533 --> 00:00:17,266
el microscopio láser OLS5000

6
00:00:17,266 --> 00:00:19,166
lleva las mediciones
metrológicas superficiales

7
00:00:19,166 --> 00:00:21,333
a un nivel superior.

8
00:00:21,333 --> 00:00:23,500
El microscopio láser OLS5000
alberga objetivos especialmente

9
00:00:23,500 --> 00:00:25,500
desarrollados para

10
00:00:25,500 --> 00:00:28,066
la metrología superficial,

11
00:00:28,066 --> 00:00:29,866
los cuales permiten detectar una

12
00:00:29,866 --> 00:00:31,466
diferencia de altura de punto tan
pequeña como de 6 nanómetros

13
00:00:31,466 --> 00:00:34,000
con el fin de efectuar mediciones
de elevada precisión.

14
00:00:34,000 --> 00:00:35,433
El nuevo escáner MEMS

15
00:00:35,433 --> 00:00:36,833
permite realizar escaneos

16
00:00:36,833 --> 00:00:39,300
a través de superficies
con alta resolución.

17
00:00:39,300 --> 00:00:41,133
El escaneo lateral 4K

18
00:00:41,133 --> 00:00:42,633
es un nuevo modo
de escaneo predeterminado

19
00:00:42,633 --> 00:00:45,133
para proporcionar una mejor
calidad de imagen.

20
00:00:45,133 --> 00:00:46,933
Es posible conseguir imágenes claras,

21
00:00:46,933 --> 00:00:49,066
incluso al inspeccionar estructuras

22
00:00:49,066 --> 00:00:52,133
tan pequeñas como de 120 nanómetros.

23
00:00:52,133 --> 00:00:54,033
Las mediciones precisas del sistema

24
00:00:54,033 --> 00:00:55,666
son compensadas
en base a la velocidad.

25
00:00:55,666 --> 00:00:57,866
Con el nuevo algoritmo PEAK,

26
00:00:57,866 --> 00:01:00,366
el microscopio láser OLS5000

27
00:01:00,366 --> 00:01:02,900
reúne los datos
en algunas decenas de micras

28
00:01:02,900 --> 00:01:04,766
en tan solo algunos segundos.

29
00:01:04,766 --> 00:01:06,466
Para resultados aún más rápidos,

30
00:01:06,466 --> 00:01:08,100
el nuevo modo SKIP SCAN

31
00:01:08,100 --> 00:01:09,366
permite que el sistema mida

32
00:01:09,366 --> 00:01:11,333
una diferencia de altura de punto
de un milímetro

33
00:01:11,333 --> 00:01:13,300
en 20 segundos.

34
00:01:13,300 --> 00:01:15,733
La operación del sistema es fácil.

35
00:01:15,733 --> 00:01:18,633
Los usuarios pueden capturar datos
3D automáticamente

36
00:01:18,633 --> 00:01:20,966
con tan solo hacer clic
en el botón Iniciar.

37
00:01:20,966 --> 00:01:22,333
La función de escaneo inteligente

38
00:01:22,333 --> 00:01:25,266
optimizará automáticamente
los ajustes de imágenes,

39
00:01:25,266 --> 00:01:26,766
lo que ayudará
a minimizar la variación

40
00:01:26,766 --> 00:01:29,100
entre diferentes operadores.

41
00:01:29,100 --> 00:01:32,066
El análisis de datos también es fácil.

42
00:01:32,066 --> 00:01:33,466
Con tan solo algunas
pulsaciones de botón,

43
00:01:33,466 --> 00:01:35,400
el software puede
cuantificar rápidamente

44
00:01:35,400 --> 00:01:36,833
la topografía superficial,

45
00:01:36,833 --> 00:01:38,400
incluyendo la altura de punto,

46
00:01:38,400 --> 00:01:40,600
el ancho de línea y la rugosidad
de la superficie.

47
00:01:40,600 --> 00:01:42,066
Gracias al sistema óptico sensible

48
00:01:42,066 --> 00:01:44,333
que posee el microscopio OLS5000,

49
00:01:44,333 --> 00:01:47,033
es posible medir objetos
lejanos

50
00:01:47,033 --> 00:01:49,200
mantenido la misma precisión elevada.

51
00:01:49,200 --> 00:01:50,633
Los nuevos objetivos LEXT

52
00:01:50,633 --> 00:01:52,533
de 10x de aumento y
larga distancia de trabajo

53
00:01:52,533 --> 00:01:54,700
permiten observar profundos contornos

54
00:01:54,700 --> 00:01:57,133
en un campo de visión más amplio.

55
00:01:57,133 --> 00:02:00,366
El amplificador de marco ocular

56
00:02:00,366 --> 00:02:02,333
agrega flexibilidad

57
00:02:02,333 --> 00:02:04,233
para tratar una variedad
de muestras aún más grandes

58
00:02:04,233 --> 00:02:07,433
dotadas de hasta 210 mm
de altura 300 mm de ancho.

59
00:02:07,433 --> 00:02:09,333
Lleve su metrología superficial

60
00:02:09,333 --> 00:02:10,900
a un nivel superior

61
00:02:10,900 --> 00:02:12,766
con el microscopio de escaneo
láser confocal en 3D

62
00:02:12,766 --> 00:02:16,066
LEXT OLS5000.

63
00:02:16,066 --> 00:02:17,400
Para más información,

64
00:02:17,400 --> 00:02:18,933
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65
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