1
00:00:14,580 --> 00:00:16,716
デュアル・マトリックス・アレイ
(DMA)プローブは

2
00:00:16,716 --> 00:00:20,853
粒子の粗いオーステナイト系ステンレス鋼、
インコネル合金材料や溶接部を

3
00:00:20,853 --> 00:00:23,423
OmniScan探傷器やFOCUS装置で検査する際、

4
00:00:23,423 --> 00:00:26,625
より広い測定範囲をカバーできます。

5
00:00:26,625 --> 00:00:29,795
デュアル・マトリックス・アレイ
(DMA)プローブにより、

6
00:00:29,795 --> 00:00:31,765
フェーズドアレイプローブのS-スキャンと

7
00:00:31,798 --> 00:00:33,666
低周波数の送受信や

8
00:00:33,666 --> 00:00:37,036
TRL検査法のメリットを組み合わせて、

9
00:00:37,036 --> 00:00:39,371
浸透しにくい素材の欠陥検出と

10
00:00:39,371 --> 00:00:43,041
サイジング性能を向上させます。

11
00:00:43,041 --> 00:00:46,645
DMAプローブは、

12
00:00:46,645 --> 00:00:48,415
全てのアレイがスプリッター不要の

13
00:00:48,415 --> 00:00:52,518
同一コネクターに接続された状態で、

14
00:00:52,518 --> 00:00:55,155
片面検査用のデュアル構成、または

15
00:00:55,155 --> 00:00:58,525
両面同時検査用のクワッド構成で
提供されます。

16
00:00:58,525 --> 00:01:03,095
2.25MHzのA17 DMAプローブは、
より厚みのある材料や、

17
00:01:03,095 --> 00:01:07,633
減衰しがちなオーステナイト系材料用に
最適化された

18
00:01:07,633 --> 00:01:12,671
大きめな4x7のエレメント構成を
採用しています。

19
00:01:12,671 --> 00:01:13,940
ここでの例では、

20
00:01:13,940 --> 00:01:17,610
30～80度の縦波によるS-スキャンの
プログラミングにより

21
00:01:17,610 --> 00:01:21,413
オリンパスのVersaMouseスキャナーを
1回スキャンさせるだけで

22
00:01:21,413 --> 00:01:28,286
オーステナイト系溶接部の
全体積の検査が行えます。

23
00:01:28,286 --> 00:01:31,590
4MHzのA27 DMAプローブは、

24
00:01:31,590 --> 00:01:35,795
2x16のエレメント構成を採用し、

25
00:01:35,795 --> 00:01:40,000
ビームステアリングと表面検査を強化するため

26
00:01:40,000 --> 00:01:43,403
より小さなエレメントを使うことにより
薄い材料用に最適化されています。

27
00:01:43,403 --> 00:01:44,470
ここでの例では、

28
00:01:44,470 --> 00:01:48,206
表面および表面近傍の検査用に
最適化されたウエッジを使用して

29
00:01:48,206 --> 00:01:51,610
70～85度の縦波によるS-スキャンが

30
00:01:51,610 --> 00:01:55,081
ウエッジ前面20mmの位置に集束します。

31
00:01:55,081 --> 00:01:58,885
この位置では、浅い表面上の欠陥を
検出するための横波パルスエコーの

32
00:01:58,885 --> 00:02:02,655
全波Vスキップが不可能となるためです。

33
00:02:02,655 --> 00:02:04,590
高屈折角の表面測定では

34
00:02:04,590 --> 00:02:08,428
OmniScanのディスプレイは
サイズが最適化されるように

35
00:02:08,428 --> 00:02:10,596
未補正のS-スキャン用に設定され、

36
00:02:10,596 --> 00:02:12,965
ゲートの位置は、

37
00:02:12,965 --> 00:02:16,268
表面および表面近傍の欠陥を検出するように

38
00:02:16,268 --> 00:02:33,953
C-スキャンの溶接部分の検査領域幅に
合わせて配置されます。

39
00:02:33,953 --> 00:02:35,988
DMAプローブのウエッジには、

40
00:02:35,988 --> 00:02:38,425
平面構成と

41
00:02:38,425 --> 00:02:41,293
パイプ表面に対応する
AOD(凸面軸上)構成があります。

42
00:02:41,293 --> 00:02:45,031
ウエッジ内の送受信を音響的に絶縁することで

43
00:02:45,031 --> 00:02:47,933
ウエッジの制振材料と

44
00:02:47,933 --> 00:02:50,003
縦波パルスエコーウエッジで必要な

45
00:02:50,003 --> 00:02:52,205
大きな絶縁体が不要となります。

46
00:02:52,205 --> 00:02:56,508
このため検査データのノイズが軽減されます。

47
00:02:56,508 --> 00:02:59,045
DMAプローブのウエッジは交換可能で

48
00:02:59,045 --> 00:03:01,613
スキャナーと注水用ポートが備わっており、

49
00:03:01,613 --> 00:03:03,583
従来型超音波
TRLクリーピング波プローブと同様に

50
00:03:03,616 --> 00:03:05,718
容積検査用、または

51
00:03:05,718 --> 00:03:10,556
薄い表面の検査用に設計されています。

52
00:03:10,556 --> 00:03:13,025
32:128PRモジュールでは

53
00:03:13,025 --> 00:03:15,795
両面を同時に測定するため

54
00:03:15,795 --> 00:03:19,631
フェーズドアレイ検査用に
DMAプローブを二つまで使用可能です。

55
00:03:19,631 --> 00:03:22,268
DMAプローブを動作する装置には

56
00:03:22,268 --> 00:03:25,005
パルサー/レシーバー(PR)オプションを備えた

57
00:03:25,005 --> 00:03:27,406
OmniScan探傷器およびFocus装置に

58
00:03:27,406 --> 00:03:30,343
搭載されている各種エレメントや

59
00:03:30,376 --> 00:03:33,880
同時励振エレメントを使った
送受信機能が必要です。

60
00:03:33,880 --> 00:03:36,615
標準または前世代のOmniScan探傷器を

61
00:03:36,615 --> 00:03:39,785
アップグレードすることも可能です。

62
00:03:39,785 --> 00:03:43,956
最新のPA2 OmniScan探傷器の特長は

63
00:03:43,956 --> 00:03:46,760
より広範な使用温度範囲、

64
00:03:46,760 --> 00:03:48,326
ファンレス設計、

65
00:03:48,326 --> 00:03:50,496
115Vのパルサー、

66
00:03:50,496 --> 00:03:51,965
ビデオフィルタリング、

67
00:03:51,965 --> 00:03:55,001
オーステナイト検査に必要な

68
00:03:55,001 --> 00:03:57,970
優れたSN比です。

69
00:03:57,970 --> 00:04:01,473
OmniScan標準ソフトウェアは
DMAプローブに対応し、

70
00:04:01,473 --> 00:04:03,943
オリンパスSetup Builder
またはTomoviewカリキュレーターの

71
00:04:03,943 --> 00:04:06,045
ローファイルのインポート、

72
00:04:06,078 --> 00:04:07,813
あるいはS-スキャン構成用に

73
00:04:07,813 --> 00:04:11,450
事前定義されたローファイルの
ライブラリーを使って

74
00:04:11,450 --> 00:04:15,088
角度範囲と集束を取り込みます。

75
00:04:15,088 --> 00:04:17,823
UT最適化と校正機能は

76
00:04:17,823 --> 00:04:22,461
オーステナイト標準試験片、または
パイプサンプルを使って行われます。

77
00:04:22,461 --> 00:04:25,865
検査対象となる材料の減衰と溶接べベルのサイズは

78
00:04:25,865 --> 00:04:29,235
検査のニーズに合ったラインスキャンと集束法で

79
00:04:29,235 --> 00:04:32,305
測定されます。

80
00:04:32,305 --> 00:04:34,840
あらゆる材料と溶接べベルの検出と

81
00:04:34,840 --> 00:04:38,511
サイジングの精度制限は、

82
00:04:38,511 --> 00:04:41,413
検出可能なプローブ周波数など
さまざまな要因に依存し、

83
00:04:41,413 --> 00:04:44,183
同じ材料の溶接サンプルまたは標準試験片で

84
00:04:44,216 --> 00:04:48,220
試行錯誤を繰り返して測定されます。

85
00:04:48,253 --> 00:04:50,456
DMAプローブは、

86
00:04:50,456 --> 00:04:52,291
横波パルスエコーの検査が不可能な

87
00:04:52,291 --> 00:04:57,063
材料および溶接べベルで
使用することを推奨します。

88
00:04:57,063 --> 00:04:59,331
手動によるエンコード検査では

89
00:04:59,331 --> 00:05:02,101
単一のDMAプローブを使った
チェーンスキャナーによって

90
00:05:02,101 --> 00:05:07,773
インコネルCRA溶接部の
ラインスキャンで検査が行われます。

91
00:05:07,773 --> 00:05:09,675
欠陥が検出されると

92
00:05:09,675 --> 00:05:12,511
インデックス・ラスター・アームにより
プローブが再配置され

93
00:05:12,511 --> 00:05:17,283
サイジングの最適化が行われます。

94
00:05:17,283 --> 00:05:19,485
2軸による機械化スキャナーでは

95
00:05:19,485 --> 00:05:23,021
CRA溶接部の検査が完全に自動化されており

96
00:05:23,021 --> 00:05:35,435
検出のための1軸ラインによるスキャンと

97
00:05:35,435 --> 00:05:43,476
欠陥サイジングと特性解析を強化するための
ラスタースキャニングが行われます。

98
00:05:43,476 --> 00:05:47,613
OmniPCを使用すれば、
装置とコンピューターの両方で

99
00:05:47,613 --> 00:05:55,321
同じソフトウェア・インターフェイスを使って
Omniscanデータを解析できます。

100
00:05:55,321 --> 00:05:59,425
ここでは、2MHzのA17 DMAプローブにより

101
00:05:59,425 --> 00:06:02,395
インコネル溶接部と母材において

102
00:06:02,395 --> 00:06:07,266
熱によって変化した領域の
疲労亀裂に関するIDが検出されます。

103
00:06:07,266 --> 00:06:09,801
亀裂の長さはC-スキャンに表示され、

104
00:06:09,801 --> 00:06:15,475
深さと高さは、A-スキャン、B-スキャン、
S-スキャンに表示されます。

105
00:06:15,475 --> 00:06:18,678
データの解析および収集にTomoviewを使用すると

106
00:06:18,678 --> 00:06:21,313
カスタム表示、

107
00:06:21,313 --> 00:06:23,416
C-スキャンの追加機能、

108
00:06:23,416 --> 00:06:26,085
さらに複数のグループやデータファイルを

109
00:06:26,085 --> 00:06:40,800
同時にまとめて解析することが可能です。

110
00:06:40,800 --> 00:06:44,770
ソフトウェアや装置の仕様以外にも

111
00:06:44,770 --> 00:06:48,306
こうしたプローブとウエッジの技術により

112
00:06:48,306 --> 00:06:52,211
より強化された
オーステナイト溶接検査が実現できます。

113
00:06:52,211 --> 00:06:55,181
デュアル・マトリックス・アレイ
(DMA)プローブは、

114
00:06:55,181 --> 00:06:58,451
OmniScan探傷器の可能性と能力を広げ、

115
00:06:58,451 --> 00:07:01,220
標準的な製品を使用した
検査レベルをアップさせる

116
00:07:01,220 --> 00:07:05,258
もう一つのソリューションです。

117
00:07:05,258 --> 00:07:08,895
デュアル・マトリックス・アレイ
(DMA)プローブと

118
00:07:08,895 --> 00:07:11,096
オーステナイト溶接部探傷の詳細は

119
00:07:11,096 --> 00:07:13,131
お近くのオリンパスまでお問い合わせください。

120
00:07:13,131 --> 00:07:24,743
または下記のウエブサイトをご覧ください。
www.olympus-ims.com