_{Řešení pro}
Výroba PCB

Detekce cizího materiálu po vyvrtání otvorů

Po procesu vrtání někdy uvnitř průchozího otvoru zůstávají zbytky z pryskyřice (známé jako stěr). Nečistota má vliv na hodnotu elektrické vodivosti, takže pracovníci kontroly ji musejí lokalizovat a odstranit. Velikost nečistoty činí několik mikrometrů a lze ji detekovat pomocí fluorescence.

Naše řešení

Naše mikroskopy řady BX a MX, které umožňují pozorování pomocí fluorescence, umějí tyto nečistoty detekovat.

Metalografický mikroskop řady BX s fluorescencí Zobrazit podrobné informace o produktu

Mikroskop řady MX pro kontrolu polovodičů s fluorescencí Zobrazit podrobné informace o produktu

3D rozměry desky plošných spojů (PCB)

Poznámky k použití

Prozkoumat související oblasti použití:

	Nečistoty v prokovených otvorech desky plošných spojů (PCB) Více informací
	Používání softwaru pro analýzu obrazu k měření schopnosti stejnoměrného pokrytí nebo stejnoměrnosti tloušťky pokovení desky plošných spojů mědí Více informací
	Kontrola odlupování vláken ve skleněném epoxidovém substrátu desky plošných spojů – zřetelné snímky jsou pro kontrolu kvality nezbytné Více informací