Přesné zobrazování
Přesné zobrazování ve vysokém rozlišení
Díky schopnosti provádět přesná 3D měření na široké škále typů vzorků poskytuje systém spolehlivá data za účelem zajištění kvality a řízení procesů.
Vynikající laterální rozlišení
| Fialový laser s vlnovou délkou 405 nm a dedikované objektivy s vysokou NA umožňují zachytit jemné vzory a defekty, které konvenční optické mikroskopy, světelné interferometry ani mikroskopy na bázi červeného laseru nedokážou detekovat. | |
|
| |
Červený typ (658 nm:0,26 μm čára a prostor) | Fialový typ (405 nm:0,12 μm čára a prostor) | |
Jednotné hodnoty měření
Dedikované objektivy LEXT dokážou přesně měřit periferní oblasti, které by jinak byly zkresleny. |
|
|
|
Nově vyvinutý skener MEMS
 | Nový skener MEMS provádí přesné skenování X–Y s nízkým zkreslením skenovací plochy a minimálními optickými odchylkami. |
Technologie skenování 4K
| Technologie skenování 4K skenuje ve směru osy X 4096 pixelů, tj. čtyřikrát více než náš předchozí model. |
Zachycení skutečného tvaru
| Protože konvenční laserové mikroskopy používají standardní techniky zpracování obrazu, např. vyhlazování, aby eliminovaly šum, někdy se pak spolu s šumem vytratí i přesně změřené jemné výškové nepravidelnosti. |
Další technologie měření s vysokým rozlišením
|
|
Informace na této stránce, včetně záruky přesnosti, vycházejí z podmínek stanovených společností Olympus.