.jpg?rev=F1FF)
.jpg?rev=F1FF)
- Domovská stránka
- Řešení pro měření a kontrolu 5G zařízení
- Zaručená přesnost měření rozměrů
Zaručená přesnost měření rozměrů
Měření antény základnové stanice5G anténa má mnoho integrovaných vysílacích a přijímacích prvků, které slouží k posílení rádiových vln v určitém směru a zvýšení citlivosti příjmu. Anténa vysílá paprsky z mnoha prvků. Aby nedocházelo ke vzájemnému rušení, musí mít prvky a obvody přesné tvary.
Výzvy při měření prvkůBěžný digitální mikroskop nemusí nabízet zaručenou přesnost měření a jím naměřená data jsou tedy méně spolehlivá. | Garantovaná přesnost DSX1000Při použití digitálního mikroskopu DSX1000 je zaručena přesnost a opakovatelnost měření, díky čemuž můžete získat spolehlivá data.
Měření tvaru obvodu antény
|
Měření desek plošných spojů (DPS)Zařízení podporující 5G mají spoustu součástí, které musí být dostatečně malé a tenké, aby se vešly do moderních smartphonů. Potřebují také vynikající charakteristiky při vysoké frekvenci a schopnost odolat širokému rozsahu teplot a vlhkosti. Aby bylo zajištěno, že PCB tyto přísné požadavky splňují, jsou pečlivě kontrolovány pomocí mikroskopu.
Výzvy při měření PCBPCB může být obtížné zobrazit, protože odrazivost desky se velmi liší v závislosti na materiálu. Bez jednotného jasu nemusí být naměřená data spolehlivá. Měření průchozích via otvorůMěření průchozích otvorů je standardní položkou kontroly PCB, která má zajistit, že je součástka vyrobena podle specifikace. Průměr průchozího otvoru lze snadno změřit pomocí hloubkové účinnosti softwaru OLYMPUS Stream™ a mikroskopu BX53M nebo MX63.
| Měření vzoru PCBJak digitální mikroskop DSX1000, tak měřicí mikroskop STM7 lze použít k vysoce přesnému měření šířky a výšky via otvorů a ploch v deskách plošných spojů.
|
Měření filtrů šumuTechnologie 5G využívá miniaturizované filtry šumu, jejichž elektrody jsou extrémně malé. Vzhledem k jejich malým rozměrům vyžaduje měření velikosti a tvaru elektrody pokročilé kontrolní zařízení.
Výzvy při měření elektrod filtrů šumuMetalurgické nebo digitální mikroskopy nemusí být schopny tyto elektrody spolehlivě změřit z důvodu jejich malých rozměrů. | Přesné měření elektrodMěřicí laserový mikroskop OLS5100 poskytuje vysoce přesná měření drobných elektrod se zaručenou přesností a opakovatelností.
|
Měření vícevrstvých keramických kondenzátorůVícevrstvé keramické kondenzátory se používají k potlačení šumu a nastavení obvodových konstant v elektronických zařízeních. V základnových stanicích a mobilních terminálech technologie 5G je vyžadován velký počet kondenzátorů. Rostoucí požadavky na miniaturizaci vyžadují, aby vrstvy byly stále tenčí, což vyžaduje pečlivou kontrolu kvality.
Výzvy měření vícevrstvých kondenzátorůKe kontrole keramických kondenzátorů se obvykle využívají metalurgické mikroskopy, stereomikroskopy a konvenční digitální mikroskopy, nicméně odrazivost od elektrod a dielektrika jsou tak odlišné, že je nemožné zobrazit celý kondenzátor najednou. | Přesné měření vícevrstvého keramického kondenzátoruDíky funkcím digitálního mikroskopu DSX1000 můžete pozorovat tvar drobných elektrod a dielektrik s rovnoměrným jasem. A díky telecentrickému optickému systému mikroskopu můžeme zaručit přesnost měření všech objektivů DSX při všech zvětšeních.
|
Měření obalu elektronických součástekPryskyřice, která obaluje elektronické součástky, se nazývá obal. Chrání prvky a připojovací svorky a zároveň musí také přenášet signály a elektrickou energii. Obaly se vyrábí ve všech možných tvarech, aby vyhovovaly různým konstrukčním plánům. Kritickým faktorem je, aby na sebe správně nasedaly, jejich tvar je tedy nutné pečlivě zkontrolovat a změřit.
Vzorek poskytla společnost KOTECSYS CO., LTD. Výzvy při měření obalůObaly elektronických součástek jsou extrémně malé (µm a méně) a není již možné je měřit pomocí standardního měřicího mikroskopu. | Měření obalů menších než jeden mikrometrPokročilé možnosti měření laserového mikroskopu OLS5100 umožňují vysoce přesné 3D měření jemných elektrod se zaručenou přesností a opakovatelností.
|
Měření průměru jádra optického vláknaOptická vlákna se používají při přenosu informací, protože jsou odstíněna od okolního elektromagnetického šumu. V technologii 5G se k rozšíření přenosové kapacity používá vícejádrové vlákno a je nutné pečlivě kontrolovat jak vzdálenost mezi jednotlivými jádry, tak i jejich průměr.
Potíže s měřením optických vlákenPři použití metalurgického mikroskopu nebo stereomikroskopu často není možné provádět pozorování s jednotným jasem, což vede k nespolehlivému měření. | Přesné měření jádra vláknaDigitální mikroskop DSX1000 usnadňuje přesné měření průměrů jádra optického vlákna a vzdálenosti mezi jádry se zaručenou přesností a opakovatelností.
|
Měření koncových ploch optických vlákenOptická vlákna jsou často vzájemně propojena takovým způsobem, aby se zabránilo útlumu světelného paprsku způsobeného ztrátou spojení (Fresnelův odraz). Z tohoto důvodu jsou koncové plochy vláken zaoblené nebo zešikmené, nicméně řízení tohoto procesu však může být obtížné.
Výzvy při měření koncových ploch optických vlákenMěřicí mikroskopy a běžné digitální mikroskopy nedokážou zaoblení či zešikmení koncové plochy přesně změřit. | Přesné údaje z měření koncových ploch optických vlákenMěřicí laserový mikroskop OLS5100 využívá technologii skenování 4K, pomocí které zaznamenává přesné údaje o zaoblení či zešikmení blízkých vertikále. Příklad sférického obrazu
|
Měření konektorů optických vlákenOptická vlákna se připojují k základnovým stanicím pomocí koaxiálních konektorů, které efektivně odvádějí teplo, mají minimální šum a splňují přísné standardy velikosti. Tyto konektory jsou v rámci procesu zajištění a kontroly kvality měřeny, aby se zajistilo splnění požadavků.
Výzvy při konvenčním ručním měřeníPostupem času se koaxiální konektory tak zmenšily, že je již nelze měřit s použitím zvětšovacích čoček nebo posuvných měřítek. | Přesné měření koaxiálního konektoruMěřicí mikroskop STM7 umožňuje uživatelům měřit délku a výšku konektorů optických vláken v rozsahu milimetrů až nanometrů.
|
Potřebujete pomoc? |