KIF-PU是一款用于分析光学元件的透射波像差的干涉仪。该系统尤其适用于在光学拾波器生产线上评估物镜或准直透镜。

1. 无需选择操作员即可进行稳定的测定
   配备了标准的压电驱动载物台的自动调整构造以及专用软件，降低了调整误差所导致的测定值的变动。该功能在高N.A.光读取头镜片的透过波面测定中发挥威力。

2. 可以测定405 nm带·650 nm带镜片
   标准装载了405 nm和658 nm两种波长的光源，可通过简单的操作切换测定波长，可对任一方的光学元件进行评价。

3. 可进行直线／圆偏光切换
   测定在读取头光学元件中使用的具有偏光依存性的被检物时，需要进行直线／圆偏光切换。最适合进行塑料及晶体等具有复折射特性的元件的透过波面测定。

4. 小型·高刚性
   小型且高刚性的机身，充分考虑到生产现场的使用环境，所以不占空间即可进行快速质量检查。

5. 可进行合格判断
   在专用的软件中，通过可任意设置的规格值和合格判断设置功能，能够在生产线中轻松进行合格判断。