1. 可测定被测物体的反射角规格
   用来折射的反射平面的角度可以变更，所以可以根据被测物体的反射角规格进行测定。此外，可以在同一反射平面内测定分光器的透过波面和反射波面。

2. 可测定405 nm带·650 nm带镜片
   标准装载了405 nm和658 nm两种波长的光源，可通过简单的操作切换测定波长，可对任一方的光学元件进行评价。

3. 可进行直线／圆偏光切换
   测定在读取头光学元件中使用的具有偏光依存性的被检物时，需要进行直线／圆偏光切换。最适合进行塑料及晶体等具有复折射特性的元件的透过波面测定。

4. 小型·高刚性
   小型且高刚性的机身，充分考虑到生产现场的使用环境，所以不占空间即可进行快速质量检查。

5. 可进行合格判断
   在专用的软件中，通过可任意设置的规格值和合格判断设置功能，能够在生产线中轻松进行合格判断。

* 本装置不保证溯源体系中的绝对精度

特长

1.解析结果显示功能

・P-V, RMS, Pwr
・赛德尔像差（倾斜、焦点、AS、彗差、球面像差）
・Zernike系数（3、4、9、16、25、36项）
・3维鸟瞰图、2维彩图
・横切面侧面像（X、Y方向、PV、RMS）
・合格判断结果

2.文件输入输出功能

・工作参数的保存和读取
・条纹数据的保存和读取
・影面数据的保存和读取
・画面版面的保存和读取
・主窗口打印

3.影面功能

・影面设定（四角形、圆形、多角形、自动影面）
・自动影面设定

4.工作参数设定功能

・产品名、单元名、注释
・波长（405/658）
・修整次数（3/4/9/16/25/36）
・像差清除（像差指定／Zernike系数指定）
・显示单位（λ、μm、nm、条纹）
・对Zernike系数的offset设定
・规格值（指定各像差以及用户定义式）