该干涉仪适用于分析平面光学元件，尤其是在光学拾波器生产线上分析棱镜、平面镜等的透射波面和反射波面。

1. 可测定被测物体的反射角规格
   用来折射的反射平面的角度可以变更，所以可以根据被测物体的反射角规格进行测定。此外，可以在同一反射平面内测定分光器的透过波面和反射波面。

2. 可测定405 nm带·650 nm带镜片
   标准装载了405 nm和658 nm两种波长的光源，可通过简单的操作切换测定波长，可对任一方的光学元件进行评价。

3. 可进行直线／圆偏光切换
   测定在读取头光学元件中使用的具有偏光依存性的被检物时，需要进行直线／圆偏光切换。最适合进行塑料及晶体等具有复折射特性的元件的透过波面测定。

4. 小型·高刚性
   小型且高刚性的机身，充分考虑到生产现场的使用环境，所以不占空间即可进行快速质量检查。

5. 可进行合格判断
   在专用的软件中，通过可任意设置的规格值和合格判断设置功能，能够在生产线中轻松进行合格判断。