激光干涉仪

KIF系列激光干涉仪设计紧凑、功能实用，可对光学元件进行精确的表面测量，如数码照相机的镜头、光通信及其他数字机械元件。

KIF-10A-UW小型LD干涉仪是一款价格低廉、设计紧凑的LD干涉仪。该型号干涉仪已经缩小至手掌般大小，操作简便。只需将镜头置于载物台上便可进行简单快速的检查。

KIF-10A-DW小型LD干涉仪是一款价格低廉、设计紧凑的LD干涉仪。该型号干涉仪使质量检查变得简单容易，适用于在小型透镜的多种类、小批量的生产现场进行快速的质量检查。

KIF-10A-NW/NTW是一款应用了KIF-10A、用于牛顿评价的测量装置。通过比较标准牛顿色盘上的牛顿环的数量，可进行简单快速的检查。

KIF-202L激光干涉仪是一款用于测量光学元件轮廓微观平整度的干涉仪系统。它在加工现场的生产过程中，对保障质量和检查程序扮演着不可替代的作用。

KIF-20-UW激光干涉仪是牛顿评价类型的干涉仪系统。该系统适用于快速质量检查和对量产透镜的数控管理。

KIF-20-DW是一款适用于快速质量检查的干涉仪系统，同样适用于在生产现场对平面或球面的轮廓微观平整度进行数控管理。

KIF-FU60，KIF-FSA是一款安装于KIF-20系列干涉仪上的干涉条纹分析系统，主要用于通过扫描干涉条纹获取测试样本的波相位，以及显示和保存测量结果。最适合用于质量检查、生产现场的平面以及球面的面精度的定量评价。

KIF-402是一款用于平面、价格低廉、高性能、对应4英寸直径的立式激光干涉仪。

KIF-FU100，KIF-FSA是一款安装于KIF-402系列干涉仪上的干涉条纹分析系统，主要用于通过扫描干涉条纹获取测试样本的波相位，以及显示和保存测量结果。

KIF-PU是一款用于分析光学元件的透射波像差的干涉仪。该系统尤其适用于在光学拾波器生产线上评估物镜或准直透镜。

该干涉仪适用于分析平面光学元件，尤其是在光学拾波器生产线上分析棱镜、平面镜等的透射波面和反射波面。