Обратная связь
Обратная связь
Продукты
▾
Решения НК
▾
Дефектоскопы
▾
Портативные ультразвуковые дефектоскопы
Оборудование с фазированными решётками
Вихретоковые дефектоскопы
Вихретоковые матрицы
Контроль качества композитных материалов
Портативные толщиномеры
▾
27MG
45MG
38DL PLUS
Magna-Mike 8600
35RDC
Преобразователи и аксессуары
72DL PLUS
Датчики и преобразователи
▾
Одноэлементные и раздельно-совмещенные преобразователи
Вихретоковые преобразователи
Преобразователи для контроля труб
Фазированные преобразователи (ФР-ПЭП)
BondMaster Probes
Автоматизированные системы контроля
▾
Система контроля колесных пар ж/д вагонов
Системы контроля прутков
Системы контроля труб
Система контроля сварных соединений полученных сваркой трением с перемешиванием (СТП)
Pipeline Girth Weld Inspection
Оборудование НК
▾
FOCUS PX / PC / SDK
QuickScan
Промышленные сканеры НК
▾
Сканеры для контроля сварных соединений
Сканеры для коррозионного мониторинга
Сканеры для аэрокосмической промышленности
Комплектующие сканеров
Olympus Scientific Cloud
Software
▾
Программное обеспечение WeldSight™
Программное обеспечение TomoView
Программное обеспечение NDT SetupBuilder
OmniScan MX2 and SX Software
Программное обеспечение OmniPC 4
РФ-анализаторы и рентгеновские дифрактометры
▾
Портативные РФ-анализаторы
▾
Vanta
Vanta Element
Компактные переносные РФ-анализаторы
▾
Vanta GX
In-Line XRF Analysis
Решения OEM
▾
X-STREAM
Ключевые прикладные решения
Olympus Scientific Cloud
Промышленные микроскопы
▾
Лазерные конфокальные микроскопы
▾
OLS5100
Цифровые микроскопы
▾
Цифровые микроскопы
Измерительные микроскопы
▾
STM7
STM7-BSW
Контроль чистоты
▾
CIX100
Оптические микроскопы
▾
Прямые микроскопы
Инвертированные микроскопы
Модульные микроскопы
Микроскопы для контроля полупроводников и плоскопанельных дисплеев
▾
MX63 / MX63L
AL120
AL120-12
Микроскопы с дополненной реальностью
▾
SZX-AR1
Стереомикроскопы
▾
SZX16
SZX10
SZX7
SZ61/SZ51
Цифровые камеры
▾
DP75
DP28
SC180
DP23
LC35
DP23M
ПО для анализа изображений
▾
PRECiV
Stream Enterprise
Микроспектрофотометр
▾
USPM-RU-W
Линзы объектива
▾
MPLAPON
MPLAPON-Oil
MXPLFLN
MXPLFLN-BD
MPLN
MPLN-BD
MPLFLN
MPLFLN-BD
MPLFLN-BDP
LMPLFLN
LMPLFLN-BD
SLMPLN
LCPLFLN-LCD
LMPLN-IR/LCPLN-IR
White Light Interferometry Objective
Micrometer
Компоненты микроскопов OEM
Промышленные микроскопы — Часто задаваемые вопросы
Специализированные решения
Customized Solutions
Видеоскопы, бороскопы
▾
Видеоскопы
▾
IPLEX NX
IPLEX GAir
IPLEX GX/GT
IPLEX G Lite and IPLEX G Lite-W
IPLEX TX II
IPLEX с длинной рабочей частью
Wind Turbine Inspection Video Borescopes
Aviation Borescopes for Aircraft Inspection
Video Borescopes for Automotive Engine Inspection
Промышленные фиброскопы
▾
Фиброскопы малого диаметра
Sweeney Digital Turning Tool
Программное обеспечение для генерации отчетов
▾
InHelp
3DAssist 3D Modeling Software
Источники света
Отрасли
Ресурсы
Обучение
Блог
Поддержка
▾
Контакты
Consultation Reception about Introduction
Служба поддержки клиентов
XRF and XRD Technical Support
Service Solutions
▾
Overview
Сервисные центры
Custom Financing Solutions
Olympus Scientific Cloud
Программное обеспечение
User Manuals
Сертификаты ISO
MSDS Datasheets
Compliance and Ethics at Evident
Информация о продукции
Product Service Termination List
Оборудование снятое с производства
▾
MultiScan MS5800 для контроля труб
▾
Программное обеспечение MultiView
Программное обеспечение TubePro
CIC
Evident Technolab
Microscope Classroom
EVIDENT Modern Slavery Act Statement
Rentals
Shop
Careers
What is EVIDENT?
Поиск
My Account
IMS Log in
App Marketplace
Connected Devices
My Apps
My Data
My Organization
Evident Connect Log in
Evident Connect Log in
Log Out
Log Out
English (English)
|
日本語 (Japanese)
|
français (French)
|
简体中文 (Simplified Chinese)
|
Deutsch (German)
|
italiano (Italian)
|
čeština (Czech)
|
Español (Spanish)
|
русский (Russian)
|
polski (Polish)
|
português (Portuguese)
|
한국어 (Korean)
Промышленные решения
Карьера
Карьера
Новости
Главная
/
Пресса
2024
|
2023
|
2022
|
2021
|
2020
|
2019
|
2018
|
2017
|
2016
|
2015
|
2014
|
2013
|
2012
|
2011
|
2010
|
2009
|
2008
|
2007
|
2006
News
10
Дек
Strategic Partnership Dramatically Improves Efficiency And Timeliness
12
Ноя
Olympus Introduces the IPLEX RX and IPLEX RT Industrial Videoscopes Featuring the Unique PulsarPic™ Image Processor to Produce Exceptionally High-resolution Images.
29
Окт
Olympus выпускает портативный XRF анализатор Xpert для оценки соответствия продукции требованиям RoHS
01
Окт
Olympus выпускает новое программное обеспечение, используемое с дефектоскопом OmniScan MX, специально разработанное для модулей вихретокового контроля и контроля прочности композитных материалов.
03
Сен
Новый программный модуль ультразвукового дефектоскопа EPOCH 600 для коррозионного мониторинга значительно упрощает процедуру контроля.
21
Июн
Olympus выпускает компактный, простой в использовании и доступный по цене дефектоскоп OmniScan SX.
10
Июн
Olympus выпускает новую систему защиты для портативных XRF анализаторов DELTA Window Guard™
29
Май
Release of New Industrial Laser Microscope for 3D Surface Measurement LEXT OLS4100
29
Май
Olympus Corporation is pleased to announce the coming launch on June 3 of the LEXT OLS4500 Nano Search Microscope.
01
Май
Olympus adds Stereo Measurement capability to the palm-sized IPLEX UltraLite
15
Апр
Olympus introduces an internal Working Channel scope model additionally to the compact and versatile IPLEX LX videoscope.
15
Апр
Olympus introduces an internal Working Channel scope model additionally to the compact and versatile IPLEX LX videoscope.
28
Фев
Olympus Awards an Education and Research Grant to Ripon College, Ripon, WI
25
Фев
DSX series gains international recognition at design awards
01
Фев
Olympus выпускает новый портативный рентгенофлуоресцентный анализатор DELTA Professional с технологией X-act Count
К сожалению, эта страница недоступна в вашей стране.
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Обратная связь
Подписаться на информационный бюллетень
Social News
Olympus IMS
Главная
/
Пресса
Печать
Search
Cancel
Redirecting
You are being redirected to our local site.
Attention: Please enable JavaScript
К сожалению, эта страница недоступна в вашей стране.