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Usando o microscópio confocal a laser OLS5000 da Olympus para medir a rugosidade da superfície de placas de circuito impresso


Contexto

À medida que os equipamentos eletrônicos ficam menores e mais sofisticados, a demanda por placas de circuito impresso (PCBs) miniaturizadas está aumentando. Uma parte fundamental da fabricação de PCBs é a ligação da folha de cobre a um substrato de resina dielétrico. Para garantir que a folha de cobre adira firmemente, a superfície de resina é tornada áspera para aumentar a área de superfície. Se a superfície for muito áspera, ela criará impedância elétrica que tem um impacto negativo no dispositivo eletrônico. Consequentemente, a rugosidade da superfície deve ser medida para assegurar que está dentro dos limites ideais.

Soluções Olympus

O microscópio de medição a laser 3D LEXT da Olympus é projetado para medir a rugosidade da superfície com uma resolução planar de 0,12 μm e uma resolução irregular de 5 nm, que é ideal para aplicações de rugosidade de PCBs. O microscópio possui alta densidade de píxeis e alta sensibilidade à inclinação, o que permite medir superfícies com irregularidades sutis e ângulos íngremes. O LEXT aplica a tecnologia de medição de rugosidade sem contato, por isso, a superfície de um substrato está protegida de danos.

Características do produto

O LEXT possui imagens de ultra-alta resolução com alta densidade de píxeis para observações 3D exatas. O microscópio é muito sensível à inclinação e mede amostras com ângulos íngremes de forma confiável. As medições de rugosidade da superfície não apresentam contato, por isso, o substrato de resina está protegido. O LEXT suporta requisitos de medição de rugosidade da superfície JIS/ISO.

Imagem

Uma imagem 3D mostrando a medição da rugosidade de um substrato de resina

Figura 1: Uma imagem 3D mostrando a medição da rugosidade de um substrato de resina

Olympus IMS

ProductsUsedApplications

The LEXT™ OLS5100 laser scanning microscope combines exceptional accuracy and optical performance with smart tools that make the system easy to use. The tasks of precisely measuring shape and surface roughness at the submicron level are fast and efficient, simplifying your workflow and delivering high-quality data you can trust.

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