ポータブル超音波／渦流探傷器
OmniScan MX UT
OmniScan MX UT
OmniScan MX UTは、一般的な超音波検査と自動検査に対応し、TOFDだけでなくエンコードされたB-スキャン、C-スキャン、および全データ保管をサポートします。また、パルスエコー法とTOFD法を組み合わせて同時に検査することができます。
超音波検査
タイムオブフライト検査
タイムオブフライトディフラクション(TOFD)は、ピッチキャッチモードで2つのプローブを使用する技術です。 TOFDは、欠陥の一部から回折された信号を検知し、記録することにより、検出とサイジングを行います。 TOFDのデータは、濃淡のB-スキャン表示で表示されます。 TOFDは、広範囲をカバーし、ASME‑2235規格に準拠した単独振幅サイジングが可能です。
- 1つの回線走査で多くの検査を実現
- 溶接構造とは別のセットアップ
- あらゆる種類の欠陥に対して高感度を維持し、欠陥の位置とは無関係
タイムオブフライトディフラクション（TOFD）とパルスエコー検査
TOFDが、非常に高性能で効率性の高い技術である反面、検出しにくいゾーンが2箇所あるという問題があります。 1つは、近距離表面、もう1つは底面です。
OmniScan® UTは、従来のパルスエコーとTOFDを融合した検査を同時に行うことができます。 パルスエコーは、TOFDを細くし、検査の困難なゾーンをカバーします。
- TOFD検査
- 溶接の各側にある溶接キャップの検査には、45度のパルスエコーを採用
- 溶接の各側にある溶接根の検査には、60度のパルスエコー採用
0‑度検査(腐食および複合材)
0-度検査は、欠陥を検出し、測定するために部品からゲートに跳ね返ってくる超音波エコーの伝播時間と振幅を測定します。
- C‑スキャンイメージング
- A‑スキャンの全データをC‑スキャンとともに記録
超音波ソフトウェア
多彩な機能を搭載したC‑スキャン
- 各ゲートにおける振幅、ピーク位置、交差レベル位置、厚さを監視
- 自動ゲートが先行ゲートから同期発生し、より優れた厚さダイナミックレンジを実現
- A‑スキャンデータ保存およびC‑スキャン後処理機能
- 同期発生、測定ゲートあるいはTCG/DACカーブに追従する表面用IFゲート（オプション）
- 各ゲートのRF信号にある正あるいは負のゲート
- 単独のゲートイベントあるいは多数のゲートイベントにて調整可能な8系統のアラーム。1チャンネルあるいはマルチチャンネルからのイベント発生回数指定のフィルタ
- C‑スキャンの振幅と厚さをカラーパレットにてカスタマイズ可能
- 256レベルのカラーパレット調整が可能
- 2‑軸エンコーダに同期したデータ取得が可能
- データライブラリソフト（オプション）により、A‑スキャンおよび（あるいは）C‑スキャンをPCでカスタマイズ可能
多彩な機能を搭載したB‑スキャン
- 解析が容易な検査部品の断面表示
- ボイラー、パイプ、タンクの腐食マッピングの優れた表示
- 収集した厚さデータを視覚的に識別
- エンコードされたTOFD機能による振幅依存のない欠陥サイジング
多彩な機能を搭載したA‑スキャン
- A‑スキャンの表示色は選択可能
- リジェクトモード
- ホロー（空洞）モード
- ピークホールドモード(常にゲートAで最大振幅を表示する信号を保持)
- ゲート閾値レベルでの交差位置表示(ゲートレベルを超えるとカーブの色は変化）
- A‑スキャンのゲート内ピークとエンベロップオーバーレイは、60-Hzで更新
ステップ式の校正ウィザード
すべての校正ｒプロセスは、「次へ」「戻る」のナビゲーションによるステップ式メニューにより単純化。
- 音速校正
- ウェッジ遅延校正
- TOFD校正
- TCG校正
- エンコーダ校正
TOFDオプション
- B-スキャンエンコードデータイメージングと保存機能
- 濃淡カラーパレットで調整可能な輝度およびコントラスト
- A‑スキャンデータは、100-MHzのサンプリングレートで数値化
- オンラインでもオフラインでも使用可能なTOFD校正ウィザード
- 双曲線カーソルと測定値によるTOFDサイジング
- ラテラル波は再同期可能
| 超音波モジュール仕様 | |
|
外観寸法
(W x H x D) |
244 mm x 182 mm x 57 mm
(9.6 in. X 7.1 in. X 2.1 in.) |
| 質量 | 1 kg |
| コネクタ | LEMO® 00 (2、4あるいは8) |
| パルサー | |
| パルサー数 | 2、4、8 |
| パルス電圧 |
50 V、100 V、200 V、300 V ±10 %
(パルス幅によって変化) |
| パルス幅 | 30 ns～1000 ns（±10 %）の範囲で調整可能、分解能2.5 ns |
| 立下り時間 | 7 ns以下 |
| パルス形 | 負矩形波 |
| 出力インピーダンス | 7 Ω以下 |
| レシーバ | |
| レシーバ数 | 2、4、8 |
| レシーバゲイン幅 | 0 dB のステップで0 dB～100 dB |
| 最大入力信号 | 20 V ピーク-ピーク (128%時スクリーン 128 %) |
| 最小感度 | 200 µVピーク-ピーク(128 %スクリーン 128 %) |
| ノイズ（入力換算） | 160 µVピーク-ピーク (26 µV RMS) (128 %スクリーン) |
| 入力インピーダンス | 50 Ω |
|
入力フィルタ
(100 % 帯域幅) |
1 MHz (1.5 MHz)、
2 MHz (-2.25 dB)、 5 MHz (-4 dB)、 10 MHz (-12 dB)、 15 MHz、 20 MHz、 0.25 MHz～2.5 MHz、2 MHz～25 MHz BB |
| システム帯域幅 | 0.25 MHz～32 MHz (-3 dB) |
| 波形表示 | RF、全波、半波＋、半波－ |
| モード | PE (パルスエコー)、PC (ピッチアンドキャッチ)、TT (透過法)。 PCモードでは、パルサーの最大数は、チャンネル数/2と同等 |
| スムージング | デジタル |
| DAC | |
| ポイント数 | 16 |
| DACレンジ | 最大40 dB |
| 最大ゲインスロープ | 20 dB/µs |
| データ収集 | |
| A-スキャンデータ収集速度 | 6000 A-スキャン/秒(512ポイントA-スキャン) |
| 最大パルス速度 | 12 kHz(C-スキャン)で1チャンネル |
| データ処理 | |
| リアルタイムアベレージング | 2, 4, 8, 16 |
| ゲート | |
| ゲート数 | 3: 3ゲート: I （同期）、AおよびB（測定） |
| 同期化 | メインバン上で、I、A、B：送信パルスに連動、AおよびB：ゲートIに連動（ポスト同期) |
| データ保存 | |
| A-スキャン記録(TOFD) |
6000 A-スキャン/秒(512ポイントA-スキャン)
(転送速度3 MB/秒) |
| C-スキャンタイプデータ記録 |
12 000 (A1、A2、A3、T1、T2、T3) (3ゲート)
12 kHz （腐食マッピング用低周波数） |
| データ表示 | |
| 画像更新速度 | 60 Hz |
| データ同期 | |
| オンタイム同期 | 1 Hz～12 kHz |
| エンコーダ同期 | 1または2軸1～65 536ステップに対応 |
| アラーム | |
| アラーム数 | 3 |
| 条件 | ゲートの論理上の組み合わせ |
| 信号 | ゲートAあるいはゲートBの振幅あるいはTOF |
1-軸エンコードによるB-スキャン検査
OmniScan 2-チャンネルUT B-スキャン腐食マッピングキットについて
このキットには、OmniScan MX UT、マニュアルリモートスキャンB-スキャン位置エンコーダ、TomoView Liteソフトウェア、デュアル-UTプローブが含まれています。 このキットは、鋼鉄製プレート、ボイラー、パイプ、タンクなどのスポット検査やワンラインスキャンに必要なB-スキャン検査を対象としています。
| リモートスキャン、B-スキャン位置エンコーダ | OmniScan MX UT (2チャンネル) | 収集データの管理のためのTomoView Lite |
