技術情報

C-スキャン マッピング

超音波波形データを表示するもう一つの方法は、Ｃ-スキャンと呼れるもです。試験片内部の上面ビュー（上面画像）または平面ビューとして超音波データを二次元的に表示します。その画像透視方法はＸ線画像と似ています。ゲートと交差したエコーは、振幅もしくは深さ（厚さ）により各々の位置にマッピングされますが、その際の色階調はそれぞれの値の大小を表しています。平面ビューは、超音波データをＸ－Ｙ位置に追跡することにり平面部品に対して生成され、軸方向と角度の位置を追跡することによって円筒部品に対して生成されます。一般的な超音波探傷装置では、探触子の位置座標を設定された分解能で検出可能なエンコーダー付きのスキャナーが使用されます。次の画像は対比試験片のＣ-スキャンを概念的に示しています。このＣ－スキャンは、ビーム集束型水浸探触子を用いた一般的な音波探傷装置で作成されています。

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フェイズドアレイ法によるＣスキャン >>