
平面用高精度レーザー干渉計KIF-402は
高性能、低価格を実現した、4インチ対応のコンパクトな縦型タイプの干渉計システムです。
小型・簡単操作
小型で設置場所にスペースを取らないため生産現場での使用に適しています。また被検物のセット、アライメント等がスピーディにできます。
測定口径2段切り換可能
ハードディスク基板サイズに適した倍率に切り換えができますので、ハードディスク測定面一杯にして測定できます。
豊富なオプション群
各種ø102参照レンズ(Zygoマウント互換)が使用できます。干渉縞解析装置(KIF-FU100)を取り付ければ高精度な縞解析が可能です。
口径ø152にも対応可能
オプションのアパーチャコンバータを使用すれば6インチ口径に変換できます。
| 平面用高精度レーザ干渉計 KIF-402:仕様 | |
| 項目 | KIF-402 |
| 測定方法 | フィゾー型干渉方式 |
| 口径 | ø102mm(オプション使用時ø60-ø152mm) |
| 参照面精度 | 平面λ/20、λ/30 |
| 測定口径 | ø102、ø71(本体2段切換)mm |
| 倍率 | 1×、1.4×(本体2段切換) |
| 光源 | He-Neレーザ(632.8nm)レーザ(レーザクラス2製品) |
| 電源 | AC100V 50/60Hz |
| 本体外形寸法 | 300(W)×400(D)×790(H)mm |
| 本体重量 | 約35kg |
| 標準付属品 | 9型TVモニタ、2軸調整ステージ |
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