光学測定装置

KIF-402

平面用高精度レーザ干渉計 KIF-402

平面用高精度レーザー干渉計KIF-402は
高性能、低価格を実現した、4インチ対応のコンパクトな縦型タイプの干渉計システムです。

  1. 小型・簡単操作
    小型で設置場所にスペースを取らないため生産現場での使用に適しています。また被検物のセット、アライメント等がスピーディにできます。

  2. 測定口径2段切り換可能
    ハードディスク基板サイズに適した倍率に切り換えができますので、ハードディスク測定面一杯にして測定できます。

  3. 豊富なオプション群
    各種ø102参照レンズ(Zygoマウント互換)が使用できます。干渉縞解析装置(KIF-FU100)を取り付ければ高精度な縞解析が可能です。

  4. 口径ø152にも対応可能
    オプションのアパーチャコンバータを使用すれば6インチ口径に変換できます。

平面用高精度レーザ干渉計 KIF-402:仕様
項目KIF-402
測定方法フィゾー型干渉方式
口径ø102mm(オプション使用時ø60-ø152mm)
参照面精度 平面λ/20、λ/30
測定口径ø102、ø71(本体2段切換)mm
倍率1×、1.4×(本体2段切換)
光源He-Neレーザ(632.8nm)レーザ(レーザクラス2製品)
電源AC100V 50/60Hz
本体外形寸法300(W)×400(D)×790(H)mm
本体重量約35kg
標準付属品9型TVモニタ、2軸調整ステージ
  • ビデオプリンター
  • 防振台
  • 減衰フィルター
  • 透過測定台
  • 専用ラック
  • 4インチ−6インチアパーチャーコンバータ
  • 透過測定用平面ミラー(λ/20)
  • 干渉縞解析装置(KIF-FU100)
  • 参照レンズ(口径4インチ、λ/15)(F0.6、F0.7、F0.8、F1.5、F3.0、F6.0)
  • 参照平面(口径4インチ、λ/20又はλ/30)
  • 参照平面(口径6インチ、λ/15)

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