レーザー干渉計

レーザー干渉計KIFシリーズは、光通信、ビデオ、情報機器などの光学素子の面精度を高精度に測定できる小型で使い易い干渉計です。

KIF-10A-UWは手のひらサイズの小型・簡単操作を実現した、低価格の小型LD干渉計です。レンズを載せるだけで手軽、迅速に検査が可能です。

KIF-10A-DWは低価格の小型LD干渉計です。簡単操作で検査ができるので、小型レンズの多種少量生産現場での迅速な品質検査に最適です。

KIF-10A-NW/NTWはKIF-10Aを応用したニュートン評価用の測定機です。ニュートン本数をニュートン原器と比較することにより、簡単に短時間で検査できます。製造現場における工程内検査用に欠かせない新しい検査ツールです。

KIF-202Lは顕微鏡・光ピックアップなどの製造で培った小径測定技術を用いて開発した小型で使いやすい干渉計です。光通信、ビデオ、情報機器などの光学素子を高精度に測定できます。

レーザー干渉計KIF-20-UWはニュートン評価タイプの干渉計システムです。量産レンズの迅速な品質検査と数値管理に最適なシステムです。

レーザー干渉計KIF-20-DWは、光学部品の面精度測定をするための干渉計システムです。生産現場における平面及び球面の面精度の迅速な品質検査と数値管理に最適なシステムです。

KIF-FU60, KIF-FSAはKIF-20シリーズの干渉計に取り付けて被検品の波面位相をフリンジスキャン方式で取得し、測定結果を表示保存するための干渉縞解析システムです。品質保証や生産現場における平面及び球面の面精度の定量評価に最適です。

平面用高精度レーザー干渉計KIF-402は高性能、低価格を実現した、4インチ対応のコンパクトな縦型タイプの干渉計システムです。

干渉縞解析装置KIF-FU60/FU100干渉縞解析ソフトKIF-FSAはKIF-20/KIF-402シリーズの干渉計に取り付けて被検品の波面位相をフリンジスキャン方式で取得し、測定結果を表示保存するための干渉縞解析システムです。

透過波面測定干渉計KIF-PUは、光学部品の透過波面収差を解析するための干渉計システムです。特に光ピックアップ用の生産ラインにおいて、対物レンズやコリメートレンズの透過波面の評価に最適なシステムです。

平面用透過波面測定干渉計KIF-PU-Fは平面光学部品の透過波面および反射波面を解析するための干渉計システムです。特に光ピックアップ用光学素子の生産ラインにおいて、プリズムやミラーの透過波面および反射波面評価に最適なシステムです。