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Soluzioni per Microscopia

Soluzioni per il settore elettronico (Dispositivi elettronici e semiconduttori)

Soluzioni per il settore elettronico (Dispositivi elettronici e semiconduttori)

Soluzioni per il settore elettronico (Dispositivi elettronici e semiconduttori)

Per maggiori informazioni consultare le Note applicative

La costante esigenza di ridurre le dimensioni dei dispositivi elettronici come computer, fotocamere e smartphone, implica di conseguenza una riduzione delle dimensioni dei componenti come quadri conduttori e connettori. Per esempio la distanza media tra i pin dei connettori elettrici è adesso solamente di 0,2 mm. Nei circuiti stampati le sottili componenti sono rivestite. La verifica dell'omogeneità di questo rivestimento rappresenta un aspetto fondamentale per la qualità del prodotto.

Misura Throwing Power

Soluzione Throwing power (sezione trasversale di un foro passante di un PCB)

Soluzione Throwing power (sezione trasversale di un foro passante di un PCB)

Utilizzare questa soluzione per misurare la distribuzione dello spessore di placcatura in rame nei fori passanti o nei microfori (via) attraverso tutte le fasi per l'esecuzione di misure critiche dei circuiti stampati (PCB). La misura include la profondità del foro o la differenza di altezza tra la placcatura in rame all'interno del microforo e l'area perimetrale del microforo.

Caratteristiche principali
  • Misura manuale di un punto selezionato su immagini in tempo reale in un campione a sezione trasversale
  • Guida per l'utente completa per tutti i punti in base alla forma del campione
  • Correzione automatica dei risultati per campioni non completamente sezionati attraverso il centro del foro
Applicazioni tipiche
  • Circuiti stampati HDI
Funzioni associate
  • Strumenti di messa a fuoco e di acquisizione di facile uso

Misura automatica della dimensione critica

Soluzione Automatic measurement (struttura Wafer)

Soluzione Automatic measurement (struttura Wafer)

Usare questa soluzione per effettuare delle misure in base al rilevamento dei contorni in un'immagine in tempo reale con riconoscimento dello schema. Usare il software per creare degli scanner per misurare le distanze (punto-linea e cerchio-cerchio), diametro del cerchio, rotondità del cerchio e riquadro di delimitazione (larghezza, lunghezza e area). Lo strumento di validazione integrato fornisce un'indicazione “accettato-rifiutato” (pass-fail) per ogni misura.

Caratteristiche principali
  • Definizione di un processo di misura ripetitivo per utenti esperti
  • Esecuzione dell'istruzione di misura mediante un controller senza modifica dei parametri di tolleranza
  • Indicazione istantanea di Accettazione/Rifiuto
Applicazioni tipiche
  • Prodotti semiconduttori
Funzioni associate
  • Strumenti di messa a fuoco di facile uso

Altre soluzioni consigliate

  • 3D
  • Rilevamento
  • Particle Distribution (Distribuzione delle particelle)
  • Porosity (Porosità)
  • Analisi di fase estesa
     

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