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Notas de aplicación
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Medición dimensional de perforaciones en una caja de cartón


Medición de la forma a escala micrométrica con un microscopio láser

Cremallera de una caja de cartón

«Cremallera» de una caja de cartón

1. Aplicación

Los alimentos suelen envasarse en cajas de cartón. Muchas de estas cajas tienen una perforación conocida como «cremallera» (o zipper del inglés) en el área de apertura. Después de abrir la cremallera, la caja puede abrirse fácilmente a lo largo de la perforación, permitiendo acceder a su contenido. Gestionar la profundidad y el ángulo de las perforaciones es importante para garantizar que la cremallera pueda rasgarse a la perfección.

2. Solución Olympus

El microscopio de escaneo láser en 3D LEXT de Olympus combina varias imágenes del sistema óptico confocal para poder permitir observar formas 3D con altos niveles de precisión, incluso para perforaciones muy profundas. Gracias a la lente del objetivo especial con altas aperturas numéricas y un sistema óptico dedicado que obtiene un rendimiento máximo del láser semiconductor de 405 nm, el microscopio LEXT puede capturar el perfil de una pendiente acusada con claridad. LEXT también es un microscopio óptico, por lo que los usuarios pueden adquirir imágenes en color y en 3D simultáneamente. La información de color de la caja de cartón puede superponerse en la perforación para mejorar el efecto visual. Los resultados de medición obtenidos por el microscopio LEXT también pueden usarse para ajustar las dimensiones de la hoja de corte usada para hacer las perforaciones, lo que ayuda a producir productos que son fáciles de abrir e intuitivos.


Imágenes

(1) Muestra 1
 

Material de embalaje con un corte_F


(2) Muestra 2
 

Material de embalaje con un corte_L
 


(3) Muestra 3

Material de embalaje con un corte_N

 

Olympus IMS

Productos para la aplicación
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El microscopio de escaneo láser LEXT™ OLS5100 combina precisión y rendimiento óptico a un nivel excepcional junto con herramientas inteligentes que facilitan su uso. Las tareas de medición precisa y submicrométrica con respecto a la forma y la rugosidad superficial son rápidas y eficientes, lo que simplificará su flujo de trabajo y proporcionará datos de alta calidad en los que puede confiar.

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