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Bewertung des Oberflächenprofils von Passscheiben / berührungslose 3D-Formmessung mit Lasermikroskop


Anwendungsbereich

Eine Passscheibe wird als Abstandshalter verwendet, um die Höhe oder den Abstand von Produkten in Maschinenkomponenten, Kraftfahrzeugen und anderen Konstruktionen einzustellen. Dicke, Größe und Material solcher Passscheiben sind sehr unterschiedlich, die dünnsten Passscheiben sind etwa 5 μm dick. Die Passscheiben werden in der Regel aus Eisen, Edelstahl, Aluminium, Kupfer und Messing hergestellt.
Passscheiben sind hauptsächlich erforderlich, um einen Spalt zwischen Teilen einzustellen oder den Kontaktwiderstand zu stabilisieren. Eine Kriterium zur Bestimmung der Qualität ist das Oberflächenprofil der Passscheibe, das während des Herstellungsprozesses kontrolliert werden muss. Die Hersteller versuchen, Passscheiben zu produzieren, die so glatt wie möglich sind. Die Messung des Oberflächenprofils bewertet basiert auf einer Bewertung die der Oberflächenrauheit anstatt der herkömmlichen Linienrauheit.

Die Lösung von Olympus

Das LEXT 3D-Laser-Scanning-Mikroskop LEXT von Olympus ermöglicht eine berührungslose 3D-Formmessung mit hoher Auflösung und hoher Präzision. Die Anwender können das Profil der Tiefe (oder Höhe) von Oberflächenunregelmäßigkeiten und die Oberflächenrauheit genau messen. Da die Oberfläche der Passscheibe gleichförmig ist, kann die Linienr-Rauheit im Millimeterbereich als Längenprofil im Rauheitsmodus berührungslos gemessen werden. Die Rauheitsdaten der Längenmessungen lassen sich mit den Daten eines Rauheitsmessgerät mit Messtaster vergleichen. Darüber hinaus ist der Durchmesser der Laserstrahlspitze kleiner als der Durchmesser der Messtasterspitze, so dass die Anwender feinere Unregelmäßigkeiten genau messen können.

Oberfläche einer Passscheibe

Oberfläche einer Passscheibe

Objektiv 100X, Zoom 1X

Olympus IMS

Verwendete Produkte

The LEXT™ OLS5100 laser scanning microscope combines exceptional accuracy and optical performance with smart tools that make the system easy to use. The tasks of precisely measuring shape and surface roughness at the submicron level are fast and efficient, simplifying your workflow and delivering high-quality data you can trust.

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